新型器件可定制微控制器ZE5内部集成了加速的8051和FPGA，利用一片ZE5实现了光栅数显表的细分辨向、计数、数据处理、人机接口等全部功能的集成，构成嵌入式光栅检测片上系统，利用硬件描述语言Verilog和C语言相结合完成了系统的硬软件设计，并利用Fastchip开发平台进行了系统的调试，给出了调试的过程和仿真波形，该系统具有全数字、可定制、高集成、体积小、速度快等特点。

介绍了一种基于CCD和FPGA的光栅位移测量技术,建立了光栅位移测量系统。系统由线阵CCD采集光栅莫尔条纹,将检测到的莫尔条纹通过A/D转换器输入FPGA处理器,FPGA处理器对采集到的莫尔条纹信号进行处理,利用FFT变换求取信号相位的变化,再根据相位的变化求出位移值。文中详细介绍了工作原理的推导过程、CCD驱动控制、信号预处理以及FFT变换在FPGA中的设计实现。实验验证该系统抗干扰能力强,对光栅信号质量要求不高,能到达较高的细分数,并且系统集成度高,开发成本低,运行稳定。