为了便于调试CCD成像系统以及检测系统接口的可靠性，基于CCD扫描成像原理设计了功能特点各异的几种自校图形来模拟CCD图像数据。作为数据模拟源，自校图形具有类似线阵CCD推扫成像的动态滚动特性，同时图形灰度等级变化明显，且在x和y方向上均有灰度梯度。以鉴别率图形为例，阐述了自校图形的设计思想、代码实现及仿真验证过程。设计选用VHDL编程通过现场可编程逻辑阵列（FPGA）来实现，应用TEXTIO功能通过Modelsim仿真将自校图形数据导出到文本，然后调用MATLAB读取文本并显示图形以验证设计的正确性。几个自校图形在CCD遥感相机成像系统中得到了应用，共占用了约5％的逻辑资源。应用结果显示，自校图形能及时检测出通讯和数传模块所出现的异常并能判断分析问题根源。

提出了一种基于DM6446的变焦成像系统，进行了硬件系统设计和软件设计。该系统由镜头部分、图像采集部分、微处理器以及存储显示部分组成，通过变焦距光学镜头和CMOS图像传感器获取图像信息，再通过DM6446处理器的视频处理子系统完成图像的存储与显示。该系统结构简单、功能强大，具有良好的扩展性，应用价值好。

采用射线追迹与Stratton-Chu矢量衍射积分相结合的方法,分析计算小F 数倒置显微镜成像系统焦区的矢量衍射场分布.假设一线极化平面波倾斜入射在系统入瞳上 ,入射波频率在毫米波频段,给出了成像系统焦区衍射场分布的数值计算结果,其等高线图显示出一定像差条件下透镜系统的成像性能.分析了衍射场的矢量特性.计算与实验做了比较 ,两者吻合.

成像系统是中子照相装置的关键组件之一。利用Gd和In金属研制了胶片静态照相转换屏，采用^6LiFZnS为转换材料，增强型CCD和制冷型CCD相结合。研制了CCD在线中子成像系统。

在最小可分辨对比度MRC测试中,提出了一种实现测试靶标可调对比度的新方法.这种方法是将测试靶标放在两个重叠积分球中间,在两个积分球紧邻靶面处各开有一圆形孔,用以照明测试靶标的正反两面.在每个积分球入口处安放衰减片,转动衰减片可以控制进入积分球的光通量,从而改变了测试靶标正反两面的亮度,实现了测试靶标对比度的可调.基于此方法研制了靶标发生器,可用于快速检测可见光成像系统的MRC.测试实验结果表明,该发生器亮度可在0.3～200cd/m2范围内重复调节,测量亮度误差在±0.3cd/m2以内.

JEM-1400是日本电子株式会社（JEOL）于2006年9月全球同步推出的120kV透射电子显微镜，该电镜采用了最新高衬度物镜极靴，非常适合医学、生物学、临床病理学检验、高分子材料等低衬度样品的观察。我校安装于2006年12月份，并同时加装了美国GATAN公司数字化成像系统，成为国内最先安装、使用该型号电镜的单位之一。经过1年多的使用，该仪器性能良好、操作方便。期间也曾出现过一些问题，现将其现象与解决方法介绍如下，以供有相同型号电镜用户参考。