针对工业CT使用的X射线为一种多能谱射线,分析了这种X射线对物体进行断层扫描时发生硬化的机理及其对重建结果的影响,推导出了用于校正的数学模型.利用仿真的手段对该数学模型进行了验证.仿真结果表明该数学模型对射束硬化可起到较好的校正作用,为高精度工业CT设计提供了一定的理论基础和方法.

介绍了一种基于数字寻峰技术的多道能谱测量系统。利用可编程逻辑器件设计灵活方便的特点，借助VHDL硬件描述语言，设计了数字寻峰电路，利用单片机进行采集和管理数据，并通过USB口上传数据到主计算机。与传统的多道能谱测量系统相比，本系统具有结构简单，功耗小，操作方便，体积小等特点。

伴随着计算机技术的迅速发展，在近15年中x射线能谱仪及其分析方法突飞猛进。从1984年开始第三代的能谱仪间世，虽然它不仅可从事微区元素分析，而且可以进行图像处理和图象分析，成为发展最快使用最广的微区分析仪器。但是在超轻元素的分析、对谱线重叠的元素的定性分析、图像处理和图像分析的功能和速度方面还存在一系列间题有待改进。

采用激光粒子动态分析仪研究了低雷诺数时密度比对自由圆射流近喷嘴区轴线相干结构特征频率的影响.空气射流和二氧化碳射流核心区的末端,能谱上才出现显著的峰值,其Strouhal数约为0.41.氢气射流时在喷口附近(x＜D)即已在能谱上观察到显著的峰值,Strouhal数约为0.21,当Re≤496.6时,能谱上只出现一个峰;当Re＞496.6时,随x的增大,能谱上出现了基波的高次谐波.