扫描电子显微镜（以下简称“扫描电镜”）是一种被广泛应用于材料微区形貌分析和微小尺寸测量的仪器设备。我国早在1988年就发布了JJG550—1988（（扫描电子显微镜（试行）》检定规程，1996年教委又专门发布了JJG（教委）010—1996（（分析型扫描电子显微镜》检定规程。开展扫描电镜的检定或校准工作，需要借助标准物质，其中包括分辨力标准物质、测长标准物质和化学成分标准物质。特别是测长标准物质，

<正> DXS—3扫描电子显微镜于去年11月通过机械部鉴定,鉴定认为这是我国首次自行设计的电脑控制的高性能扫描电子显微镜。众所周知,扫描电子显微镜性能不仅取决于优良的电子光学系统,还取决于控制系统电气性能和自动化程度。

DX- 3型扫描电镜是中国科学院北京科仪厂生产的国内第一批扫描电镜，它的试制成功，在当时填补了国内空白，满足了国内许多科研及厂矿单位的急需。

<正> 扫描电子显微镜二次电子象具有分辨率高、景深大等优点,是三维表面形貌观察的常用模式。但二次电子象是三维图形在垂直于入射电子束平面的投影,因此用单帧图象不能反映出复杂表面的三维信息。用体视学的方法,根据一对相关二维图象中的结构参数可以定量计算出三维几何结构,但对复杂的图象计算费时太多,而且存在定标上的困难。因此,对表面复杂、无规物体的三维图象的定量描述和分析是迫切需要解决的课题。

本文简要介绍了纳米尺度测量概况和扫描电镜在纳米测量中的主要应用，从扫描电镜测长用标准物质，扫描电镜计量检定规程和长度测量标准方法3个方面简述了纳米尺度测量方法的标准化概况及国内外研究现状，并对纳米尺度测量未来的发展做出了展望。

在扫描电镜厂观察到的二次电到钮像.能显示样品表面的形貌.由于其焦深较大.趁根据图像中某些结构遮档显示的阴影.使人们有立体感的印象。但这不是真正的立体图像，也不具有第三维的信息.只是一张二维图像立体图像一定要只子，划门双眼立体视觉的效果.要有第三维的信息。左右两眼看物休时由于观察角度不同所造成的视差.在两眼视网膜卜形成的图像是略有不同.经大脑综合而获得深度，即第三维信息。因此.真正的立体图像至少必须有两张类似立体视觉视差的图像.即立体对图像构成。

用光子相关法、原子力显微镜和扫描电镜三种测试方法测定了同一标准样品的粒径,比较了三种测试方法在纳米粒径检测方面的特点.光子相关法给出纳米微粒的平均粒径和多分散系数,而原子力显微镜和扫描电镜在测定粒径的同时直接观察到微粒的外貌.

原子力显微镜作为一种新型的表面表征手段已经得到了各个方面的应用,本文探索了AFM在DNA表面结构中的研究方法,讨论了AFM在研究DNA中优势.

鉴于国外近年来，，扫描电镜及电子探针等都越来越多地配备一些图象处理方面的附件，大大增强了电镜的使用效果，而国内原有的SEM及EPMA未有些方面的附件，为此我们研究开发了一套适用于各种型号的SEM及EPMA等的数字图象处理系统。它可以简便地接到各种SEM及EPMA上，大大地增强了它们的功能。

研究纺织材料在力学作用下发生相应的变形和破坏的规律性，无疑对合理地确定其加工工艺参数和使用条件有着实际意义。尤其近年来纺织材料在土建、航天等工程领域的应用日益广泛，人们对它的变形和破坏的研究也越来越重视。扫描电镜的附件拉伸台是此项研究的重要手段之一。国产DX-3A扫描电镜没有配备拉伸台，.但它具有大的样品室。为满足教学科研的需要，我们自己设计、制造、安装了一个拉伸台。由于借用了原样品台的五个自由度运动系统，所以自制的拉伸台体积小，重量轻、拆装方便，使用灵活。经反复试验、改进，现已拍出部分边菜羊毛的拉伸变形、断裂照片(图1-2)。拉伸台的使用使Dx-3A扫描电镜的功能增强，也为我们的科学研究创造了条件。