本文对分子光谱法中最常用的红外光谱法、近红外光谱法、拉曼光谱法、紫外可见分光光度法、荧光光谱法以及超光谱成像技术等在食品（药品）安全领域的研究、应用、存在问题及发展前景等方面进行了综述。重点阐述了故意掺杂（比如保健品掺杂化学药品等）、无意残留（比如果蔬农药残留等）、其他物种混淆（比如他种药品冒充另一种化学药品等）三种情况下,采用光谱分析的特点和难点,尤其是这些分析对象对信息处理以及硬件设备的要求。在食品（药品）安全时代,需要分子光谱法大有作为,也大有可为。

利用电化学扫描隧道显微镜和扫描隧道谱对ｎ型硅抛光片（１１１）表面的微缺陷和表面电子结构做了初步研究。大量Ｓｉ表面不同部位的ＳＴＭ表面形貌象表明，抛光片中粗糙度的为几个纳在面积平整区与许多不规则微缺陷区共存。轻掺Ｓｉ（１１１）表面较为平整，微结构边缘平滑，尺寸较大；重掺Ｓｉ表面微缺陷密度高，结构复杂，平整度明显降低。同时观察到大量有规律的缺陷。

采用磁控溅射技术制备了无掺杂及掺杂Cr,WC的3种非晶碳膜,通过SEM和XRD对薄膜进行了微观形貌观察及物相分析,利用多功能材料表面性能测试仪测定了薄膜的临界破坏载荷,利用HSR-2M摩擦磨损试验机测试了薄膜在乏油环境下的摩擦学性能,并对试验后的薄膜进行了微观分析。结果表明在乏油环境下,3种碳膜具有较低的摩擦因数和良好的抗磨性能,随着滑动速度的提高,3种非晶碳膜的摩擦因数逐渐降低;掺杂Cr提高了薄膜的磨损寿命;掺杂WC降低了薄膜与基体的临界破坏载荷及薄膜的磨损寿命。