提出使用飞秒激光器的光学频率梳测量绝对距离的方法。将一个飞秒激光器作为绝对距离测量的光源,搭建迈克尔逊干涉结构,利用色散干涉原理进行相应的光谱分析,得到干涉光路的光学路径差引起的相位差,最终计算出干涉光路的光学路径差。实验结果表明我们的长度测量方法精确度高,分辨力达到纳米量级。最小测量距离达到9μm,非模糊范围达到5.75mm。相对于传统白光色散干涉技术的有限测量范围,最大测量距离可以扩展到任意长度。

介绍了一个基于光学倍乘原理的绝对距离干涉测量系统。系统包括两个干涉仪：采用半导体激光器作为光源的定位干涉仪和测量位移的外差干涉仪。介绍了光源的选择，系统的设计以及信号的采集和处理方案。采用这套绝对测量系统，可以实现长度为2m以内的绝对距离测量，定位精度可以达到±0.5μm。

提出了一种用于绝对距离测量的光纤超外差干涉系统，简述了该方案的原理，给出了信号处理的框图，并进行了初步实验，对系统的误差分析表明，在光强较弱，信噪比差的情况下，光学元件的非理想特性以及测量信号与参考信号之间的耦合是引起测量误差的主要原因。

本文提出一种利用半导体激光器的波长调谐特性实现的可调合成波长链绝对距离干涉测量方法，针对不同的待测距离，可选择不同的合成波长链，完成对待测距离的由粗测到精测的整个过程，文中基于这种方法构建了干涉测量系统，该系统利用压电陶瓷调制的在一条直线上的两个双光束干涉仪，使待测距离被包含于一个交流信号的相位项中，从而使小数条纹的测量转化为相位测量，合成波干涉条纹的小数级次由单波长干涉信号的相位测量值计算得到。文中以外尺寸测量为例描述了实验装置，实验结果表明，在现有的测量系统和实验条件下，待测距离小于5mm时的测量极限偏差优于2.0μm。

本文介绍利用一种白光光谱仪测量绝对距离和位移的方法。利用迈克耳逊干涉结构。使用光谱仪S2000。进行光谱分析。在知道光学元件的群折射率和厚度的情况下，利用均衡波长的概念就可以得出绝对距离。该方法不需要应用相位重现程序，其测量范围大大超过传统白光干涉技术的测量范围。为绝对距离的测量提供一些详尽的参考。