为了解近年来长度测量技术的发展现状,综述了从天文尺度到微观尺度各数量级长度量的测量方法。介绍了包括天体距离、常规尺度长度量以及微观尺度长度量的测量中所涉及的光学测量和电学测量中各测量方法的基本原理。重点介绍了纳米尺度的位移测量方法,并展望了长度量测量仪器更高精度化和微型化的发展趋势。

目的：通过实验选择能与显微镜相接的数码相机，酸以微机WIN95环境下通用图像分析软件，组建通用数码图像分析系统。方法：将大口径取景目镜替代照相目镜与通用数码相机相接，在满足一定条件下，实现显微镜下图像的摄取。结果：实验结果显示柯达DC210、DC260和阿可发E－1280数码相机，与Leica及Olympus系列显微镜的取景目镜相接下，均能比较理想的采集镜下图像。配以Scion image图像分析软件后，完全可以达到一般图像分析系统分析需求。

扫描近场光学显微镜ＳＮＯＭ自八十年代中期以来获得了的发展，并具有超衍射极限光学分辨率。作为ＳＮＯＭ的关键技术之一，样品与探针间距的控制十分重要而且实现起来比较困难。基于剪切力原理，本文提出了一种新型的样品－针尖间距测控的非光学方法，邓，利用压电陶瓷的压坟电效应，将压电陶瓷分为三部分，分别用地激励探针法动，固定地以及擦在振动变化。该方法的灵敏度很高，可将样吕－针尖的间距控制在３ｎｍ左右，而且廉价，制

报导了我们研制的一台光子扫描隧道显微镜。论述了原理，结构，光纤探讨制造，信号放大以及调试中解决的几个技术问题等。图像的横向分辨率优于１０ｎｍ，纵向分辨率的１ｎｍ，扫描范围１０μｍ×１０μｍ。还观察了云母，高密度聚乙烯ＨＤＰＥ高取向薄膜等透明材料以及铌酸锂波导的电光效应等。

描述了一种用于检测超精表面形貌的扫描近场声显微镜（ＳＮＡＭ）。其原理是利用谐振频率为１ＭＨｚ的未封装伸长型晶振作为微力传器逼近样品表面，在此过程中晶振受到流体阻尼，振动特性发生变化，通过检测振动幅值的变化即可获得样品表面形貌的信息。在分析了ＳＮＡＭ的检测机理基础上，设计了ＳＮＡＭ系统，测量时垂直分辨率可达到纳米级。

随着同步辐射(SR)光的出现，期待着X射线的微光束技术。波带板(以下简称ZP)是X射线聚光器件之一，目前来说，它能形成最微细的光束。因此．作为软X射线显微镜的透镜而被广泛使用。ZP是以利用衍射现象的聚光器件，是对入射X射线透明和不透明的同心圆环交替重叠几层的平板(见图1(C))。

本文根据在工作中对显微镜维护所积累的经验，对使用中经常会遇到的各种问题，显微镜主要部件的维护与故障排除，并结合我们的工作经验提出了一些建议。

万能测量显微镜是一种大型的精密测量仪器，具有准确度高、功能全等特点，是生产企业长度计量工作中最常用的光学仪器之一。万能测量显微镜的光学系统形成物方远心光路。使被测工件的光学成像落在仪器的分划板上，然后通过目镜使分划板上的标准刻线对工件影像进行瞄准，以达到测量的目的。因此，影像法是万能测量显微镜的最常用、最基本的测量方法。由于万能测量显微镜还配备了许多辅助设备，所以除了最基本的影像法外，它还能实现轴切法、光学接触法、机械测量法、双像法等测量手段，以达到不同的测量目的。

依据显微观测技术的发展过程，介绍了普通的光学显微镜和20世纪流行的电子显微镜，详细阐述了以扫描隧道显微镜和激光扫描共焦显微镜为代表的新型显微镜系列的发展，以及各类显微镜的基本工作原理和应用情况。

介绍了共焦激光显微镜的基本光路、成像原理、关键技术及应用。