片层体积无损测量装置的控制系统研究

简介

针对新型三维无损测量装置为实现自动对片层体积精确测量,对装置控制系统进行软硬件设计开发。提出了基于伺服控制技术,西门子PLC控制器、精密电子分析天平等组合为下位机、Labview开发的测控软件为上位机,形成数据之间的交互通信进行精密闭环定位自动控制。通过实验表明,在该控制系统的控制测量下,被测件每一层允许的测量网格数量误差值均控制在(5~7)%之间,符合无损测量的数据精度要求,即该系统能有效实现对待测件的片层体积测量,为后期三维重构提供精确的数据保证。