LAmbre封堵器封堵左心耳后密封盘周围漏与封堵器相关血栓发生的关系

简介

目的探讨心房颤动(房颤)患者左心耳植入LAmbre封堵器后密封盘周围漏与封堵器相关血栓(DRT)发生的关系。方法回顾性分析2018年5月至2021年6月在上海周浦医院接受LAmbre封堵器封堵左心耳治疗并完成经食管超声心动图复查的137例房颤患者,比较不同型号LAmbre封堵器植入后密封盘周围漏和DRT发生情况。结果137例患者年龄为(74.9±9.2)岁,>80岁(80~93岁)患者占40.1%,女性占38.7%,房颤血栓栓塞风险(CHA2DS2-VASc)评分、抗凝治疗出血风险评估(HAS-BLED)评分分别为(5.6±1.9)分、(2.7±1.6)分。左心耳植入LAmbre封堵器后1~3 mm密封盘周围漏最常见,仅1例植入3640型LAmbre患者密封盘周围漏为6 mm。比较植入不同型号封堵器后密封盘周围漏发生率,差异无统计学意义(P>0.05)。封堵盘周围漏与DRT发生无相关性。结论心房颤动左心耳植入LAmbre封堵器后1~3 mm密封盘周围漏发生最常见,不同型号LAmbre封堵器间密封盘周围漏与DRT发生负相关。