介绍了一维光子晶体技术在薄膜设计的应用,分析了IR/mmW二向色镜的基板材料和薄膜材料的选择原则,并利用一维光子晶体技术设计了中红外(3～5μm)波段的宽角高反射膜系,最后给出了实验制备工艺以及测试结果.

通过设计含缺陷的一维光子晶体，利用特征矩阵的方法计算了在特定频率条件下s光和P光在不同入射角度下的透射率，发现对特定频率的光在一定角度范围内s光和P光具有很高的消光比，且P光具有很高的透射率。说明该一维光子晶体可以作为优良的偏振分束器件。

提出用一维缺陷光子晶体来测量角度特别是小的角度变化的设计方案。用Si薄膜和SiO2薄膜组成一维缺陷光子晶体，用特征矩阵法研究该光子晶体的禁带中的缺陷模的波长和强度随入射角缓慢变化而变化的规律，由此提出根据缺陷模的波长、强度、偏振性与入射角的关系进行角度测量的原理。本设计特别适用于极小的角度变化的测量。