从理论上论述了常低温温度辐射测量方法的原理及其应用,并针对测量过程中所必须解决的被测物的发射率校正、校正误差计算以及利用特性方程进行温度定标等难题作了较为详细的分析.

半导体激光端点干涉测长法是利用半导体激光频率调制特性的一种在长度的两个端点干涉测量长度的新方法。本文介绍基于这种测长方法研制的半导体激光端点测长干涉仪实验的基本原理，构成，定标方法和测量结果。

以ＡＦＭ测量的表面微观形貌为基础，采用数值仿真技术，定量地分析光探针直径对表面微观形貌测量的影响。结果表明：评定参数Ｒａ，Ｒｑ，Ｒｙ，Ｒｚ，Ｒｋｕ以及平均轮廓斜率和最大轮廓斜率都随光探针直径的增加而减小，Ｒｓｍ随光探针直径的增大而增大，而Ｒｓｋ不随光探针直径单调变化。

补偿器是大口径非球面主镜补偿检验的关键元件。随着主镜口径和相对口径的增大，由于高阶像差的影响，补偿器的优化结果与初始结构偏离也相应增大，此时若能用法线模拟反射面代替主镜，将检验时的自准光路简化为单次通过补偿器的光路，则优化过程将大大简化，且易获得好的补偿效果。用法线模拟反射面代替主镜时，光源位于主镜顶点曲率中心，模拟面的系数由主镜参数决定。设计结果表明，这种模拟面对F／1的主镜法线都有很好的符合精度。

分析影响正弦相位调制半导体激光干涉仪测量精度和系统分辨力的因素,提出了用分布布拉格反射半导体激光器DBR LD实现高分辨力亚纳米精度测量的方案.理论计算表明,DBR LD的波长连续调制深度比F-P腔LD高一个量级.指出由于DBR LD的特殊结构可通过简单的反馈回路稳定输出光功率,有效地避免了光强波动对测量精度提高的限制.

以φ400mm轻型平面镜为例，介绍了采用机械减重法制造轻型镜的工艺技术。镜坯的轻量化采用了刚度虽不是最优，但工艺性最好的圆孔结构，并采用专门设计的钻头钻孔，再用氢氟酸消除微裂纹。加工结果表明，该镜的减重比达44．5％，但仍具有足够的刚度，且没有影响加工精度的变形。

开发了基于针孔像分析法的视频光学传递函数测试装置.测试装置采用CCD为像接收器件,通过针孔像分析,一次获得光学系统的二维传递函数.根据频谱分析理论,结合物频谱校正和空间频率对应等因素,研究了测试组件,包括针孔直径、准直物镜焦距、CCD像元尺寸和显微物镜放大倍数等参数设置对空间频率对应及测试精度的影响;采用胖零设置和多幅图像平均法降低噪音影响,根据各组件自身的传递函数修正其对测试精度的影响.50mm标准透镜的比对实验结果表明,采用本装置和本文建立的数据处理、误差校正方法,调制传递函数测试精度为±3%.

为了大气垂直探测仪能够进行精确的光谱测量，对其进行光谱定标。大气垂直探测仪使用面阵探测器，由于离轴像元接收的光线不平行于光轴，使仪器函数发生变化。本文针对大气垂直探测仪使用的16×4元面阵探测器理论分析给出仪器函数，讨论其对光谱定标的影响，并将利用理论分析结果及利用气体吸法测得的光谱，对大气垂直探测仪进行了光谱标定，光谱定标精度达10^-5。采用面阵探测器的干涉仪，边缘视场像元所测光谱会向低频漂移，因此必需研究干涉仪的仪器函数，从而消除光谱漂移对边缘视场光谱定标的影响。

设计等离子体显示板(PDP)真空紫外荧光测试系统来测评PDP荧光粉的特性.系统通过巧妙设计测试腔,模拟PDP放电单元,为激发PDP荧光粉发光提供所需要的较强真空紫外线,使系统能够分析出荧光粉的光谱功率分布、发光亮度、带宽、发射谱线主峰波长、色品坐标、颜色纯度和主波长等各种光学特性.实验结果数据表明,该系统的可重复性好、精度高,为研制高质量的等离子体显示板提供了依据.

针对电影经纬仪外转台随动系统存在的问题,提出了一种采用复合控制、全数字PID控制和CPLD技术相结合来对其进行改造的方法.引入方位速度构成外转台复合控制提高随动精度,以全数字PID控制提高外转台的跟踪性能,采用先进的CPLD技术提高随动系统偏差输入量的精度.结果表明改造后外转台系统的随动精度为±1.25mm,比改造前提高了±1.75mm,并且能以0.01o/s的速度平稳随动方位,跟踪目标.