杂散光是衡量光谱仪器性能的重要指标。本文以荧光检测器中的单色器设计为例,分析了单色器杂散光的主要来源,通过建模及ASAP软件对单色器中杂散光的形成和分布进行了模拟,并通过实验验证了模型的正确性。在此基础上,本文初步讨论了单色器外罩内壁各表面对杂散光的影响及贡献,增加不同的光陷阱结构,并模拟了其对改善系统杂散光性能的效果。

将光学系统设计与杂散光分析相结合,介绍了一种焦距2000 mm、F/#=10、2ω=1.66°的空间用R-C光学系统,系统像质优良,结构紧凑。同时,针对R-C系统的特点,考虑轴外渐晕的影响,计算了主、次镜内遮光罩的尺寸,给出外遮光罩的设计方法,对该R-C望远镜系统进行了遮光罩设计,并用光学软件进行杂散光分析,计算得到方位角为0°时的PST曲线。结果表明,当离轴角度大于太阳临界入射角时,PST值小于10-8量级,满足要求。

叙述了一种色散相减型凹全面息光栅双单色仪的结构原理，主要性能和仪器重要技术指标，进行了杂散光的测试；介绍了该仪器的实际应用。

针对EUV太阳望远镜在地面非工作波段预先检测时出现的杂散光问题,考虑望远镜长焦距的特点,建立了基于反射镜转动扫描原理的杂散光测量系统,测量得到了望远镜的点源透射率（PST）曲线。通过对比PST曲线和分析望远镜结构,得出杂散光的主要来源为小角度下的一级杂光,由此设计了主次镜遮光罩,并利用Tracepro软件建立望远镜的实体模型,在不同散射表面的双向散射（BRDF）值条件下计算出遮光罩的消杂光效果。对PST实际测量结果表明,在0~4°,使用遮光罩使杂散光减少3个数量级,杂光系数不超过3.65%。在分辨率成像测量中,杂散光影响得到消除,系统分辨率接近衍射极限,满足地面上紫外光波段的测量要求。

本文研究了紫外可见分光光度计(UV/VISS)的杂散光S.L.(Strary Light)与吸光度误差和吸光度真值之间的关系；导出了S.L.与吸光度误差和吸光度真值关系之间的理论计算公式。计算了14种S.L.下，吸光度误差与吸光度真值的关系，并绘制了12条误差曲线；同时对如何使用计算公式和有关的误差曲线、如何控制和选择UV/VISS的S.L.、以及UV/VISS的S.L.应在什么水平比较符合实际使用要求等有关问题进行了讨论。

本文所分析的空间相机视场角比较大,引进的杂散光较难消除,故对遮光罩的设计提出了挑战。本文以点源透射比作为评价方法,以空间相机探测到的目标亮度为标准,计算出相机需要达到的杂散光抑制指标。以此指标为基础,根据空间相机自身的特性及遮光罩设计原则,设计出一个三段式二级遮光罩。在光学软件TracePro中对加上遮光罩的相机系统进行建模和仿真,由得出的点源透射比曲线证明设计的遮光罩能成功地抑制杂散光,可以满足空间相机的使用要求。

可见分光光度计及紫外一可见分光光度计（UV-VIS）在制药行业中普遍使用，影响该仪器测量误差的因素很多，其中杂散光是主要来源之一。现就杂散光这一项目对仪器测量结果准确性的影响予以说明。