0概述 国际计量局(BIPM)主要任务是研制与保存"国际水平"计量基标准装置,并通过适当的手段将其量值向世界各国初级和次级标准实验室进行传递.为保证其量值的准确与可靠性,BIPM经常组织世界各国标准实验室之间进行有关计量比对与刻度的活动.

为了在双X射线源、双电离室阵列探测器构成的热轧钢板凸度仪系统中重建钢板横截面的厚度分布,必须对钢板横截面的两个边缘进行准确计算。本研究基于实际构建的凸度仪系统,应用X射线在物质中衰减的规律,对X射线在钢板边缘处的衰减进行准确建模,并利用对应于钢板边缘的探测器的输出信号,完成了钢板横截面边缘的准确计算。研究结果表明,利用该算法得到的钢板边缘正是钢板边缘的中点位置,边缘计算的算法准确。

X射线板带材凸度检测系统采用双X射线源和双排充气电离室探测器,对热轧生产线上的钢板进行厚度和凸度等参数的检测,X射线的能量和强度是决定钢板测厚精度的重要因素。为了保证测量精度,本文依据国标GB/T 15636—2008假定由统计涨落引入的测厚误差应小于±0.06%,在X光机管电压为180 kV、电流为11 mA的情况下,从理论上估算了满足以上精度探测器输出的最大相对标准偏差,通过实验对测厚范围内的钢板进行测量,计算出各路探测器输出在不同厚度钢板时的相对标准偏差。实验结果表明,在满足系统测量速度的情况下,通过对几个原始数据进行平均,可使统计涨落小于理论估算值。X光机设置的管电压和管电流参数满足测厚精度的要求。

在X射线源透射式工业计算机断层扫描成像技术（X-TICT）中，X射线透射物质时，发生了Compton光子散射现象，有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影。因此，必须进行散射修正。利用X射线透射物质时X光子散射遵循的Compton散射强度方程，结合X射线与物质相互作用的特性，建立了有效去除X—TICT在复合材料工件检测中光子散射问题造成的图像伪影的散射修正模型。探头的总计数减去散射光子数，即可有效去除X-TICT在复合材料工件检测中散射光子造成的伪影。

当需要对工件进行准确曝光时，通常需要用阶梯试块测定射线机参数，绘制曝光曲线。实际工作中大多采用一些经验公式设置曝光参数，经验公式通常只有板厚与电压两个参数，当改变参数（如曝光量和黑度等）时，相应经验公式就不再适用，必须更换公式。为避免这种低效而繁琐的工作，必须要有一套包含板厚、电压和电流等多元参数的公式。

在X射线工业计算机断层扫描成像技术（ICT）中，连续谱X射线透射物质时，发生了光子散射现象，有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影。如未修正，必引起赝像。利用X射线透射物质时的X光子散射遵循的Compton散射强度方程，建立了连续谱X射线完整精确的散射修正模型及其修正方法。为有效去除连续谱X光子的散射造成的图像伪影提供比较完善精确的修正模型和修正方法。

本文介绍了使用阶梯试块来制作X射线曝光曲线的原理及具体操作步骤,并重点介绍使用微机作图来绘制曝光曲线的方法,同时对曝光曲线在电力建设射线检验中的应用作了阐述和论证。

X射线光谱议是一种强有力的激光等离子体诊断工具.为了获取激光等离子体发射的X射线中所包含大量信息,基于椭圆几何原理设计制造了X射线弯晶谱议.在上海神光Ⅱ号装置上利用LiF弯曲晶体分析器,用150J激光能量对Ti靶进行了试验.通过X射线CCD记录获取的谱线,结果表明这种聚焦型晶体分析器的灵敏度有了明显的提高.

介绍使用阶梯试块来制作X射线曝光曲线的原理及具体操作步骤,并重点介绍了使用微机作图来绘制曝光曲线的方法.

高速非接触X射线测厚仪是现代化轧机厚度控制系统的关键测量部件,是钢铁、铝、铜、纸张等行业的厚度公差精度控制的重要仪器。它对企业的产品具有改善质量、降低成本、提高产量、增加竞争力的作用。本文主要对高速X射线测厚仪的测量原理、组成、测量精度控制及在铝轧机上应用的维护保养等方面作较全面的论述。