进行大气科学研究的傅里叶变换光谱仪，必须具备高分辨率、高准确度的精细光谱才能对温度、压力和浓度等物理量进行反演。干涉仪中光线的离轴效应使仪器光谱函数发生变化。采用直接计算干涉调制函数的方法，研究了面阵探测器各个探测元离轴位置对光谱函数形状的影响；针对干涉仪使用的16×4元面阵探测器，模拟探测元不同位置的光谱函数参量的特性。结果将在仪器光谱定标中得到应用。

探讨了大尺寸同质量光学玻璃均匀性的几种检测方法。重点了本所的刀口干涉仪。其优点是结构简单、装调容易、使用方便、于判读、可目视和折照或摄像及计算机分析处理数据，可把阴影法的高灵敏度和干涉法的高精度相结合，而且被检测的光学玻璃尺寸不受限制。

<正> 利用光波干涉原理制成的测量仪器称为干涉仪,在长度计量中应用比较广泛。本文结合仪器原理特点,探索分析用其能检定二等量块的原因,从而扩大仪器在实际工作中的应用范围。1分度值误差对测量精度的影响干涉仪的分度值不是固定的,可根据需要来调节,分度值定得正确与否是直接影响测量精度的,所

研制了用于测量光学非球面面形的条纹扫描型棱镜式剪切干涉仪。介绍了该仪器的测量原理、电路和数据处理过程。还推出了二次曲面与最适球面的差值。这样,当最适球面半径与被测件孔径相比很大时不测最适球面半径也可得到被测面相对于设计值的偏差。最后给出了一个非球面面形的测量例。

提出一种新型结构的通用型干涉仪,用于实现不同结构、不同形状的光学透镜、光学晶体等元件的快速目视观察与精确测量。该干涉仪利用可相对旋转的双光楔对条纹周期进行动态调制完成实时检测。以两块雅敏干涉平板为主体结构,在双光路中各自放入一对楔角完全相同的光楔对,建立条纹周期和条纹倾斜方向与光楔对相对旋转角度之间的关系,并采用光学晶体畴反转实时检测验证干涉仪的测量性能。试验结果表明,干涉仪的相位检测精度约为0.2 rad（λ/30）,条纹周期（一对黑白条纹）为0.105~5.993 mm/pair,光路中光楔对的相对转角可在0~179°调节。干涉仪具有完全对称的光路结构,由于较高的稳定性和抗干扰能力,可针对不同类型光学元件的结构特点进行条纹周期的实时调制,并可达到较高的检测精度。

采用自行研制的口径为600 mm的近红外相移平面干涉仪在斜入射条件下对大口径碳化硅（SiC）平面反射镜进行了绝对测量。首先,在一个标准的斐索干涉测试结构中测出空腔波面数据;然后,将被测平面置于干涉光路中,使被测件光轴与干涉仪光轴成α角,测得第二组波面数据。对两组波面数据处理后得到SiC平面反射镜中心垂线方向的绝对面形分布。最后,测量了630 mm口径SiC反射镜多条垂线方向的绝对面形。结果显示,中心垂线处的绝对检验PV值为0.061λ,RMS为0.014λ。实验结果表明,该测量装置可以实现比干涉仪有效口径大的光学平面垂线方向的绝对面形检测,尤其适用于镀有高反膜的光学表面或者金属表面等面形的绝对测量。

在研究泰曼-格林相位偏移干涉仪测量原理基础上,分析了位移驱动器移相误差对五幅移相计算结果的影响,一阶线性误差和二阶非线性误差是相位偏移干涉测量技术中产生相位误差的主要因素;提出了五幅算法移相误差补偿技术,该方法直接从相位偏移干涉图中计算移相过程中存在的一阶及二阶移相误差,对五幅算法结果进行误差修正;采用玻璃平晶为测试对象,建立了泰曼-格林干涉仪移相误差补偿原理试验系统.试验结果表明在同时存在一阶移相误差及二阶移相误差情况下,采用提出的移相误差补偿方法可以将位移测量精度提高6倍,相当于采用氦氖激光器的倍程干涉仪中位移精度达到1.0nm.

本文导出了任意应变场中任意形状的单模光纤中传输光的相位－应变关系，提出了贴装式干涉型光纤应变传感器的一种新的设计方法，可用于任意类型应变与场中考察点处的应变或应力测量。

我们用一台干涉仪，以机械方法使光程发生变化，然后和晶体电光效应引起的的光程变化相比较，提供了时种确定晶体电光系数相时符号的简单方法。

介绍大孔径静态干涉成象光谱仪的光学原理，分析基于Ｓａｇｎａｃ 型横向剪切分束器的干涉系统设计方案，推导了理论和实际的光程差公式，讨论了几种具体的结构形式，总结了各自的优缺点．