中国科技大学国家同步辐射实验室“光谱辐射标准与计量实验站”上的反射率计主要用于测量各种光学元器件在X射线、真空紫外波段的反射率。为保证测试结果的精确性和可靠性，在大量实验数据的基础上，结合必要的理论推导，对反射率计测试误差来源及影响程度进行了分析，确定影响反射率计测试精度的主要因素包括光源、探测器、样品安装等。总结了光源波动、探测器损坏的几种典型形式，定性、定量地分析了这些因素和样品安装、光斑尺寸对测试精度的影响，针对性地提出了应对办法，把测试误差控制在2％以内，从而有效地保证了测试精度。

在北京同步辐射装置上，利用3W1B柬线得到了21°-B4C／Si，21°-B4C／Mo，10°-Cr／Ti，15°-B4C/w，10°-B4C／W以及6．86°-B4C／w等多层镜在50～1500eV能段上的反射率标定曲线．分析了标定结果的不确定度，计算得到多层镜的积分衍射效率，并修正了标定结果．

介绍了同步辐射光束线中，超环面聚焦镜四点压弯装置的机械压弯原理，建立了四点压弯装置的数学模型．针对压弯柱面镜子午方向微小（最大挠度为10^-2mm级）弯曲变形，给出理论圆弧线与实际压弯挠曲线之间误差非线性函数，采用CAE技术对误差函数的求解，优化了压弯点力学参量l，使误兰函数取值最小．最后通过北京中能辐射光束线中超环面聚焦镜的工程实践，验证了优化设计的正确性．

<正> 1.引言同步辐射学术界把术语“rms倾斜误差”看作是对反射镜表面面形误差定量表示的一个很 重要的参量。新型同步辐射光源为了保持高亮度的光束质量.要求rms(均方根)表面倾斜误差不超过0.2arcsec(1μrad),为了说明这个允差的大小,举一个直径35mm的平面反射镜变形呈球形为例,其变形量只能有λ/40(峰至

同步辐射，即用加速带电粒子产生的辐射，对要求使用X射线进行研究的那些研究项目有重要意义。同步辐射的使用，对相当广泛的学科，包括物理学、化学、生物学、材料科学和医学等有重要影响。目前正在运转的存储环光源X射线的亮度(单位时间，单位能带宽度，单位面积和单位立体角发出的光子数)比cornell300MeV同步辐射源X射线的亮度大很多数量 级。目前在世界范围内正在建造的第三代同步辐射源系列，将很决地从它的插入装置中发射出更亮的光束.插入装置是一些周期分布的磁极构造，它使圆形轨迹运动的带电粒子经历一个正弦形轨道加速，进而产生比弯形磁体辐射更强的辐射束。然而，随着光束亮度的增加，使与之相遇的X射线光学件的热载荷随着增加。

为提高同步辐射压弯镜面形精度,降低水平偏转压弯机构及镜子自重对压弯镜面形的影响,分析了影响压弯镜面形精度的因素,并提出了一种有效的重力平衡补偿方法。在研究水平偏转压弯机构压弯机理的基础上,对压弯镜面形进行误差分析;针对光束线中使用的压弯聚焦镜,利用有限元方法分析了影响面形精度的主要因素;最后,根据水平偏转压弯机构特点及误差分析结果,提出了重力平衡补偿方法。研究显示,镜子自重和冷却装置的重力对压弯镜面形的影响主要表现为柱面镜母线的弯曲,驱动杆重力对压弯镜面形的影响主要体现在子午斜率误差上。利用重力平衡方法对压弯镜面形误差进行补偿,结果显示,柱面镜母线产生的斜率误差均方根值由13.14μrad减小到0.15μrad,镜面在子午方向的斜率误差均方根值由8.21μrad减小到0.86μrad。由此表明,压弯镜面形误差分析及补...

本文简要综述了近几年来国内外利用高分辨大接收角度球面聚焦晶体阵列组成的同步辐射 X 射线荧光谱仪的发展及其在化学结构分析中的应用情况。重点介绍了高分辨 X 射线荧光谱仪的基本结构、工作原理及其在材料科学和生命科学中过渡金属元素化学结构分析领域的应用。

详细推导了直圆柔性铰链所受力矩和角偏移量及受力和线性位移之间的对应关系等运动方程；对直圆柔性铰链材料的选取、直圆柔性铰链参数的设计进行了分析；介绍了在同步辐射单色器中以直圆柔性铰链为基础投角、滚角、摆角调节结构。

双能X射线CT成像技术可以精确地获得被扫描物体中的电子密度分布,对于医疗诊断和癌症放射治疗具有重要的参考价值。为了提高双能CT重建精度,该文提出了一种基于同步辐射光源的双能CT成像方法,并对相干光的后处理重建算法进行了研究。同步辐射光源具有一系列的优势。使用不同物质进行双能CT成像数值模拟可以发现：采用同步辐射光源进行双能CT重建,可以更加精确地获取被扫描物质的等效原子序数及电子密度,误差远小于使用X光机的传统双能CT系统。结果表明,基于同步辐射光源的双能CT成像技术将成为生物医学中定量研究的重要手段。目前,中国已经在上海建造成第三代同步辐射光源,为双能CT成像的进一步研究提供了条件。

设计双晶单色仪时,为减小T型高差固定结构中双晶长度,提出了一晶长度最小定理与二晶长度最小定理.这两个定理中,前者表明入射光只有掠过转角仪中心O点,一晶长度可取为最小值;后者表明出射光只有掠过两个滑道的交点P,二晶长度可取为最小值.双晶长度最小定位算法使这两个双晶定位条件同时满足,从而使一晶与二晶长度同时最小.结合入射光高度放大法,将此定位算法应用于EXAFS双晶单色仪中,可使双晶长度分别由80mm, 180mm都减小到60mm.