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表面微观形貌的显微干涉检测原理及干涉显微镜发展现状

作者: 高志山 陈进榜 来源:光学仪器 日期: 2023-11-28 人气:4
表面微观形貌的显微干涉检测原理及干涉显微镜发展现状
追踪分析世界上表面微观形貌检测方面显微干涉检测原理的最新进展,比较干涉显微镜用于检测表面微观形貌时具有的形式,结构特点,分析选型研制干涉显微镜可能遇到的问题及应该研究的方面。

二维扫描镜轴系非正交分析

作者: 惠彬 裴云天 来源:光学仪器 日期: 2023-11-28 人气:9
二维扫描镜轴系非正交分析
二维扫描镜绕两轴摆动,实现大的扫描视场.其两维摆角由与扫描镜连接的两个编码器读出.二维扫描镜轴系的非正交性会导致扫描镜实际摆角与编码器显示角不相吻合,从而导致物方指向范围偏差.在利用经纬仪测量扫描镜摆角的测试思想基础上对二维扫描镜轴系非正交的影响进行分析,给出了一种计算扫描镜轴系非正交公差的方法.

非球面反射镜在荧光显微镜单色光源中的应用

作者: 杨志勇 瞿安连 周云燕 兰李 徐涛 来源:光学仪器 日期: 2023-11-28 人气:11
非球面反射镜在荧光显微镜单色光源中的应用
为了搭建荧光显微镜单色光源系统,设计了两种不同的非球面反射镜,利用光线追迹和统计的方法分析比较了两种非球面反射镜的聚光特性,模拟了实际使用效果,并利用椭球面反射镜构建单色光源系统,在荧光测钙实验中得以使用,证实了椭球面反射镜在此类光学系统中应用的可行性.

高温拉曼光谱仪

作者: 尤静要 黄世萍 来源:光学仪器 日期: 2023-11-28 人气:8
高温拉曼光谱仪
介绍了在原有JOBIN Y′VONU1000型拉曼光谱仪上作的两种改造。一是配备了显微热台,实现了高温达1623K的共焦显微拉曼(Micro-Raman);二是采用了光谱信号的时间分辨检测技术,实现了可达2023K温度下的宏观拉曼(Macro-Raman)。拓展了拉曼光谱研究高温物质结构的应用。

LED光色度测试中存在的问题探讨

作者: 梁凤薇 牟同升 来源:光学仪器 日期: 2023-11-28 人气:6
LED光色度测试中存在的问题探讨
在分析发光二极管(LED)光色特性的特殊性和复杂性的基础上,试着寻求得到更加准确数据的测试方法.封装、温度、探测器、测量定律等都可对LED参数的测量结果产生重大的影响,只有减小各项误差后才可以得到接近真实的测量结果.

光学粉尘浓度测量仪响应特性曲线的计算与分析

作者: 黄惠杰 路敦武 来源:光学仪器 日期: 2023-11-28 人气:2276
光学粉尘浓度测量仪响应特性曲线的计算与分析
根据Mie散射理论计算了5种光学粉尘浓度测量仪的光散射响应特性曲线,对照呼吸性粉尘在人体呼吸道中的沉降效率曲线,对这些光学粉尘浓度测量仪的响应特性进行了分析。得出的结果是:采用近前向型不散射结构、多波长照明光源和大孔径散射光收集系统的光学粉尘浓度测量仪,其响应特性曲线更接近于人体对呼吸性粉尘的采集效率。

光学投影式检测非球面器件的模拟计算

作者: 段存丽 田爱玲 陈芳 来源:光学仪器 日期: 2023-11-28 人气:7
光学投影式检测非球面器件的模拟计算
针对光学投影式检测非球面器件过程进行模拟,利用光学的基本理论和数学公式推导,对非球面度的检测过程进行了理论分析及精密计算,并对理论分析的结果进行了计算模拟,模拟得到的非球面度能较好地与理论结果相符合,模拟的精度达到了0.1nm.

基于等离子体激光的X射线弯晶谱仪研究

作者: 肖沙里 周宴 熊先才 钟先信 杨国洪 来源:光学仪器 日期: 2023-11-28 人气:11
基于等离子体激光的X射线弯晶谱仪研究
X射线光谱议是一种强有力的激光等离子体诊断工具.为了获取激光等离子体发射的X射线中所包含大量信息,基于椭圆几何原理设计制造了X射线弯晶谱议.在上海神光Ⅱ号装置上利用LiF弯曲晶体分析器,用150J激光能量对Ti靶进行了试验.通过X射线CCD记录获取的谱线,结果表明这种聚焦型晶体分析器的灵敏度有了明显的提高.

基于高亮度高纯度LED旋光色散仪的研制

作者: 颜飞彪 潘雪丰 陶卫东 白贵儒 BAI Gui-ru 来源:光学仪器 日期: 2023-11-27 人气:9
基于高亮度高纯度LED旋光色散仪的研制
使用高亮度高纯度LED为光源,成功地研制出旋光色散仪,并通过对手性物质灰黄霉素溶液及氯酸纳晶体在不同波长下的旋光角的多次测量、比较,显示该旋光色散仪具有较高的精度,较好的重复性和方便性.

基于最小二乘法的智能校验方法

作者: 徐良波 刘慧英 宁飞 来源:光学仪器 日期: 2023-11-27 人气:6607
基于最小二乘法的智能校验方法
介绍了一种检测仪器的智能校验方法;着重描述了基于最小二乘法的校验算法;该智能校验方法充分利用微处理器的数据处理能力,使校验操作变得简单方便,同时降低了仪器对于内部器件稳定性的要求.
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