适用于一二次融合开关柜密封结构的有限元分析和试验研究

简介

为探究开关柜密封结构和密封材料能否达到IP67(外壳防护等级)防护要求,文中采用有限元方法在ANSYS软件建立密封结构的二维有限元分析模型,施加流体压力渗透载荷,分析密封圈在上述压力下的等效应力和接触压力的变化规律;并通过外壳防护等级(IP67)浸水试验反馈产品密封真实防护状态。结果表明:在一定预压缩率和系统温度下,密封圈应力变化取决于流体介质压力的变化,并始终存在接触压力,密封圈密封性能良好。同时浸水试验顺利通过与仿真结果相切合。