为了提高激光扫描测径技术的测量精度和测量稳定性，在研究了传统的激光扫描法测径的原理和算法后，提出了一种激光扫描测径的新算法。新算法充分利用了扫描光路的几何关系和数值计算技术。在产品生产过程中，新算法的应用提高了测量精度，降低了产品成本。