地了利用镀光学薄膜的方法来改变镀层厚度，可以有效地将原来处于双模工作的１．３±ｍＤＦＢ激光器变为单模工作。模式改变起主导作用的是加镀膜以激光器端面反射特性中的相移。实验表明，镀膜技术可成为改善ＤＦＢ激光器单模工作的一种辅助方法。实验结果有助于理解相移对激射特性的作用。

介绍了复制轻金属反射镜的主要优缺点，应用前景，制备技术，光学质量，指标的春述，以及确保质量的措施。

介绍了分振幅光度式偏振测量原理，并论述我们基于此种原理所建立的分光棱镜型分振幅光度式偏振测量系统的结构、定标和性能校验。文中提出了一种新的定标方法，应用一块位相延迟为非规整值的延迟器代替常规该类系统中使用λ／４延迟器，实现了对系统仪器矩阵定标的所有功能。

介绍了采用光叠加法校正分光光度计光度线性的基本原理及测量方法；给出了折半法线性校正误差的计算公式；分析了多系列高精度线性校正的措施及定量计算的相互关系。

利用光线追迹与实验的方法，对菲耳透镜在平行光照明时的成像特性进行了分析，给出了在各种角度入射情况下的最 位置及像点弥散斑大小，通过对结果进行分析，得出了最佳像面曲线及其特征与参数。并讨论了它们与菲涅耳透镜参数的关系。

利用四象限光电探浏器制成一种电子自准支仪，它具有自动刚量，速度快，精度较高，能同时测童二维角位移吐特.汽。文中介绍此种自准立仪的工作原理，以及检测和使用的情况。

随我电信息技术的飞速发展，为捕捉高速运动目标的信息，提出了研制型列阵滤光器的新课题。给出了可见光七通道和可见／近红外十通道的研制结果。滤光膜系采有导金属－－介质膜。文中详尽推导了膜系设计的精确求解公式，并对通道的技术指标和镀膜方式进行了阐述，还介绍了国内外相关的研制情况。

在详细研究现有多波长消光测粒的基础上，分析了各个波长下各透射光强之间的内在联系，并提出消光测粒在具体中的一种新的改进方法。

讨论了电子探针中X光分光谱仪的波长分辨力。除X光谱线的自然宽度外，弯晶光谱仪的分辨力是由一些实际因素决定的：弯晶光学系统的固有偏差、衍射晶体的镶嵌结构、晶体的有效厚度及X光源的有限体积。在不同条件下，上述因素中的一个或几个对限制波长分辨起主要作用。

近场光学显微镜是对于常规光学显微镜的革命。它不用光学透镜成像，而用探针的针尖在样品表面上方扫描获得样品表面的信息。分析了传统光学显微镜与近场光学显微镜成像原理的物理本质和两种显微镜系统结构的异同点。介绍了光纤探针的制作方法。重点讨论了近场探测原理、光学隧道效应及非辐射场的性质。