研究了电子探针在6063铝合金均匀化处理中的应用，6063铝合金试样经过不同的均匀化处理工艺后，通过电子探针对其第二相形态、数量以及分布状态进行观察，得到对应的二次电子图像（SEI）以及铁、硅、镁元素的面扫描照片，由于铁、硅的扩散程度较低，故主要通过观察均匀化处理前后镁元素的分布图和SEI形貌图，同时结合能谱仪（EDS）分析合金的微区化学成分及第二相粒子的化学成分，来判断其均匀化处理工艺的优劣。

介绍了对ＥＰＭＡ－８７０５电子探针显微分析仪全自动分析系统进行功能开发，从而实现其对电子探针分析标准样品鉴定测试的全自动分析

讨论了电子探针中X光分光谱仪的波长分辨力。除X光谱线的自然宽度外，弯晶光谱仪的分辨力是由一些实际因素决定的：弯晶光学系统的固有偏差、衍射晶体的镶嵌结构、晶体的有效厚度及X光源的有限体积。在不同条件下，上述因素中的一个或几个对限制波长分辨起主要作用。

对电子探针试样进行表面喷碳，其厚度一般掌握在200-250A左右，此处还应使标样和未知样取得尽量一致的膜厚(质量厚度)。目前多数实验室采用白瓷片等作模拟样品，蒸镀中凭肉眼的观察比色来掌握控制膜厚。也有少数实验室采用了一些别的方法，如加拿大A Iberta大学以干净玻璃片作作模拟样品，通过监测其表面碳膜电阻的变化来掌握控制膜厚。

本文通过大量的实验研究,弄清了岛津电子探针系统软件System—700C的基本构成和各功能程度段之间的连结关系。针对使用过程中存在的主要问题,做了较大幅度的扩充、改进和修正。尤其是背景测量方法的根本改变,即使在谱线非常密集的情况下,仍然可以准确扣除背景,同时大大地减少了测量时间。经过改进之后,该软件运行快速、方便、直观,功能得到扩展,测量时间减少一半以上,对国内拥有量近50台的岛津探针,具有较大使用价值。

目前,世界上仍然使用着很多模拟图像系统的旧型电子探针和扫描电镜,仅国内就有数百台。它们的主机性能仍然良好,但使用单色CRT显示,没有图像处理能力,图像质量不高,灰度分辨率不超过40级。基于这一缺陷,我们在地质矿产部科学技术司的资助下,研制了电子探针和扫描电镜的模拟图像系统与微形计算机的接口,以实现这些仪器的升级改造。该接口基于微型机ISA总线,与电子探针或扫描电子显微镜的模拟图像扫描发生器同步工作,能够同时采集3路X射线像,并可程控调节其对比度及辉度,能够分别采集二次电子像、背散射电子像和吸收电子像。所采集图像的空间分辨率达1024(×1.2)×1024,灰度分辨率为256级,伪彩色显示,以BMP格式存盘,支持多种图像处理与分析软件。

随着计算机及数字图像处理和分析技术的飞速发展,电子光学类仪器已不再满足于原始的显微形貌观察和图像记录方式,正在向综合智能化发展,其最具代表性的就是计算机控制和数字成像及处理分析能力。我们结合多年从事分析仪器的开发、制造和应用研究经验,在一台日本电子公司的JXA733电子探针上进行了计算机控制和数字图像方面的改造,并顺利通过了专家鉴定,得到了与会者的好评,具有推广应用的价值。

以EMX-SM型电子探针传动机构、分光晶体和谱仪板的调节部件为基础,建立晶体直进波长正比谱仪的失调模型,经过解析,获得反映谱仪状态的直线束方程,推导出聚焦圆正偏离和负偏离判据,得到波谱仪调整方向和具体步骤,结合实例详解谱仪实际调整过程。

针对日本岛津公司EMX-SM7型电子探针定性分析系统进行了方法研究,并用Visual C++语言,在Windows 操作平台上,设计了定性分析软件.采用边采集数据,边识别谱线的方法,实现了对样品的快速准确定性分析,同时可以显示元素特征X射线谱线,并增加了样品线分析功能.

支撑螺栓在使用过程中产生断裂,断面存在大量夹杂物。经过电子探针检测得知,该夹杂物主要成分是氧化铁及硅酸盐。经分析发现,该夹杂物是工件浇注时出现卷渣形成的。