面向GRR的基于PISMOEA模型的GD&T检具设计

简介

介绍了对于需要通过GRR的形位公差要求,在检具设计阶段采用PISMOEA模型进行变差源分析,可以提高GRR通过的可能性。并以某钣金产品的平面度为例,应用该方法设计了平面度测量装置,并顺利通过了GRR。