讨论了椭圆弯晶谱仪的波长分辨能力。在假设谱线的固有宽度可以忽略的情况下,对两种实际影响椭圆弯晶谱仪波长分辨能力的主要因素,即光源空间尺寸和非理想椭圆分光晶面进行了分析。分别对上述两种情况进行了数学建模和数值模拟仿真。定量地分析了非理想椭圆晶面和光源空间尺寸对椭圆弯晶X射线谱仪波长分辨本领的影响程度,并给出了出射狭缝宽度与椭圆弯晶谱仪波长判读加宽的关系。从理论上论证了光源空间尺寸在限制谱仪的波长分辨能力方面仍然起关键主导作用;结合椭圆分光晶体的结构参数,合理地选择出射狭缝宽度,可使谱仪达到足够好的光谱分辨率和信噪比。用搭建的实验平台进行了实验测试,结果表明,当出射狭缝宽度（2δ）为10mm时,实测的谱线半高全宽（Δλ）为3.1×10-3nm;2δ为4mm时,Δλ为2.3×10-4nm,实测结果佐证了仿真结果的正确性。...

描述了椭圆型晶体谱仪配X射线CCD相机的X射线谱测量系统（EBCS—XCCD），研究了CCD相机记录信号的解谱处理方法，推出了对实测原始谱曲线辨认或标识值的计算公式及激光等离子体辐射X射线在某一波长光谱强度的公式，使之应用在激光打靶产生的等离子体源辐射X射线谱的回推，辨认出了激光等离子体X射线源能谱，并与文献[1]的结果进行了比较，结果基本一致。测试结果证实了解谱方法的可行性，表明X射线CCD相机适用于椭圆型晶体谱仪的光谱测量记录。在已知晶体的积分反射率、滤片透射率和CCD探测效率的条件下，可以获得X射线源光谱强度，为下一步诊断激光等离子体的电子温度和离子密度的空间分布轮廓和进一步细化x射线激光研究奠定了基础。