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凸度仪校准片厚度序列选取的理论分析和仿真

作者: 邢桂来 张玉爱 苗积臣 来源:原子能科学技术 日期: 2024-08-23 人气:12
凸度仪校准片厚度序列选取的理论分析和仿真
用一定厚度的校准片进行标定,是X射线测厚设备使用前必须完成的关键工作。选取的校准片越多,系统标定曲线的精度越高,但同时成本也会随之增加。本文以实际构建的X射线热轧钢板凸度测量系统为研究对象,通过TASMIP方法生成X射线能谱,用该能谱对射线经过钢板的衰减规律进行分析,完成了对校准片选取的仿真计算。给出了实际中可应用的厚度序列实例。

用改进的透射光栅谱仪定量测量X射线能谱

作者: 岳林霖 蒙林 况龙钰 尚万里 巫顺超 来源:现代电子技术 日期: 2024-05-20 人气:20
用改进的透射光栅谱仪定量测量X射线能谱
利用最新研制的小型化透射光栅谱仪在“神光Ⅲ”原型实验装置上测量了激光注入金腔靶时激光注入口的X射线能谱,首次实现了在上极点附近对柱腔注入口辐射的测量,且实现对X射线的二维空间分辨和谱分辨的测量。改进后的透射光栅谱仪成像系统首次使用一种错位排布的狭缝阵列结构来解决因谱仪尺寸减小带来的能谱分辨问题,并同时达到提高系统空间分辨能力的目的,实现了ICF实验研究中对移动方便和高空间分辨的需求。

椭圆型晶体谱仪谱测量的解谱

作者: 王瑞荣 陈伟民 来源:光学精密工程 日期: 2023-08-11 人气:5
椭圆型晶体谱仪谱测量的解谱
描述了椭圆型晶体谱仪配X射线CCD相机的X射线谱测量系统(EBCS—XCCD),研究了CCD相机记录信号的解谱处理方法,推出了对实测原始谱曲线辨认或标识值的计算公式及激光等离子体辐射X射线在某一波长光谱强度的公式,使之应用在激光打靶产生的等离子体源辐射X射线谱的回推,辨认出了激光等离子体X射线源能谱,并与文献[1]的结果进行了比较,结果基本一致。测试结果证实了解谱方法的可行性,表明X射线CCD相机适用于椭圆型晶体谱仪的光谱测量记录。在已知晶体的积分反射率、滤片透射率和CCD探测效率的条件下,可以获得X射线源光谱强度,为下一步诊断激光等离子体的电子温度和离子密度的空间分布轮廓和进一步细化x射线激光研究奠定了基础。
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