给出了一种椭圆偏振光谱的快速测量方法,并使得实验系统的结构更为紧凑和小型化,减轻了重量. 研究中采用了由面阵型CCD探测器和平面多光栅组成的光谱仪,无需光栅扫描,就能够在很短时间内对光谱进行快速准确的数字凝视式成像,光谱分辨精度优于1.0nm,显著提高了系统工作的可靠性和效率. 系统采取了将CCD光谱仪后置的方式,研究并解决了从物理光学原理、器件设计和加工、系统调试和定标、软件编制以及到光谱测量和数据分析等一系列问题. 实验中对典型贵金属Au的光学常数谱进行了测量,获得了满意的结果.

表面光电压法是表征半导体材料特性的一种重要方法。文中介绍了表面光电压谱测试系统的硬件结构,给出了利用VC＋＋6.0进行编程来设计表面光电压谱测试系统软件,从而实现表面光电压谱信号的采集与显示的具体方法。最后给出了用该仪器对GaAs材料的表面光电压谱进行测试和分析的结果。

<正> 虽然理论上很多单色仪在软X射线波段的分辨本领E/ΔE可以达到10~4量级,但实际上只有几种单色仪能达到这么高的分辨率水平,它们是球面光栅单色仪、SX—700型单色仪及这两种单色仪的改进型。意大利的Trieste同步辐射光源上的精密电子光化学分析项目将用这类高分辨率的谱仪进行光电子谱实验。在这条光束线上采用了改进型SX—700单色仪原理,其结构由Jark提出,它能与波荡器很好地匹配,并在100eV～2000eV范围内做最佳调节。这条束线的所有光学元件的安装于1993年底完成,并在次年一月

研制了一种采用面阵式高精度CCD探测器和多光栅结构的新型单色仪,该单色仪采用了多块平面光栅结构的光谱分析系统,无需任何机械转动和位移器件,并采用面阵式高精度CCD光谱探测器,对光谱进行快速准确的数字成像,在很宽的光子能量范围内(200～1100nm)实现对光谱的快速测量和分析,适用于各种光电子实验对象的光谱学分析,光谱分辨精度优于1.0nm.解决了二维光谱探测区的数字化光谱定标,建立了探测象素随波长和能量非线性分布的数学模型.

在单色仪波长标定过程中，引入正弦曲线最小二乘拟合技术。与传统多项式拟合方法比较，这种技术有2点优势。其一，标定中使用的拟合公式与光栅方程一致，减低了对标定点数目的要求。使用普通标准谱线光源，可以满足标定仪器的精度要求。其二，根据测量仪器的实际结构，合理选择待定参数。这种选择可以大幅度简化计算，降低拟合过程中的运算复杂性。使用实测数据计算表明：其波长拟合偏误差在0．1nm以内，其计算量只与线性拟合相当。

从理论和实验两方面分析了柱面光栅的衍射特性，虹给出用于托卡马克等离子体真空紫外光谱时空分辨测量的柱面光栅单色仪设计方案。

提出了一种新的多光栅单色仪,采用机械细分及电细分相结合,实现了紫外到红外光谱的高精度自动扫描。其控制系统以C8051F060单片机为核心实现对光栅转台、滤色片轮、反光镜的控制以及双通道数据采集,采用USB接口与计算机连接。信号调理单元可实现电压电流的自动切换及软件可编程增益,可连接光电倍增管、光电池等多种接收器。系统具有采样精度高、集成度高、自动化程度高及扫描速度快等优点。

为了使单色仪在极紫外一软x射线波段准确地进行波长扫描，需要对单色仪进行波长标定。单色仪的所有组件都放置在罗兰圆的圆周上，改变出射狭缝在罗兰圆上的位置，在单色仪的出射狭缝处就可以得到相应波长的单色光。通过测量标准He空心阴极光源的发射光谱，对Mcpherson247单色仪进行波长标定，并对实验结果进行了分析，得出在1～100nm波段内单色仪标定精度为±0．017nm-±0．097nm。

本文介绍了国产单色仪快速组织自动光谱辐射计的方法及其方法。应用该系统可测量光源或辐射源的光谱辐射特性，进而得到当代评价光源的重要技术参数；三刺激值，色温，相关色温，显色指数等。

本文主要介绍光纤测试仪PK2210常见故障的维修及调试。