基于加速老化试验的O形密封圈存储寿命预测

简介

对库存O形密封圈(简称O形圈)进行基于热应力的加速老化试验与存储寿命预测。结合O形圈特点,选取拉断伸长率作为关键指标,根据多温度下拉断伸长率随时间的变化趋势,计算材料的活化能,进而预测O形圈的存储寿命。3种O形圈存储寿命预测值与实际存放情况吻合,证明方法有效。