<正> 前言 在应用薄膜光学中,滤光膜虽然不如增透膜和反光膜那样用得广泛,但它在整个光学领域却非常重要。光学、光谱学、激光、天文物理学等领域几乎离不开各样的滤光膜。滤光膜的设计和工艺标志着当今光学薄膜的水平。

研制了一台可以在250nm-400nm波段测量绝对光谱辐亮度和绝对光谱辐照度的扫描式光谱辐射计，辐亮度辐照度相对定标准确度2％，可用于UV—A、UV—B紫外波段地基观测．通过在丢南丽江地区（26°52′N，100°13′E）开展的大气散射光谱辐亮度和地面太阳直射紫外光谱辐照度观测试验，进一步检验了仪器的性能．观测数据与利用MODTRAN模式模拟计算值存在约8％的偏差，分析了产生偏差的相关因素．

JJG178-2007《紫外、可见、近红外分光光度计》检定规程。 2.测量方法 (1)波长准确度检定 在规定的条件下，选取仪器的透射比或吸光度测量方式，在测量的波长点用空气作空白调整仪器得到的透射比为100%(0A)， 插入挡光板调整得到的透射比为0%，然后将标准物质垂直于样品光路中，读取标准物质的光度测量值，重复上述步骤，在波长检定点附近单向逐点测出标准物质的透射比， 求出相应的透射比谷值，连续测量3次，其算术平均值与标准波长之差，即波长示值误差。

简述了宽禁带氮化镓(GaN)基半导体紫外探测器件的光谱特性,介绍了氮化镓(GaN)基半导体紫外探测器件在便携式紫外辐射计中的应用.文章着重讨论了便携式紫外辐射计的硬件实现方法.

本文叙述了200~400nm波段光电探测器光谱响应度的测量装置原理、测量系统及不确定度。采用紫外光谱强度大的氙灯作为光源,采用紫外分光效率高的单色仪进行分光,腔型热释电探测器与标准硅光电探测器进行相对光谱响应比较得到标准硅光电探测器相对光谱响应度。绝对值标定则是利用低温辐射计对无窗紫敏硅光电探测器进行测量后再传递到标准硅光电探测器,从而最终测量出标准硅光电探测器在紫外波段的绝对光谱响应度。