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> 光切原理
薄膜厚度测量研究
作者:
徐志玲
吴飞飞
来源:
上海计量测试
日期: 2024-04-24
人气:3
本文介绍一种简便的薄膜厚度测量方法.可在普通的光切显微镜上,利用光切原理测量薄膜厚度.能测量0.8~80微米的薄膜厚度.
关键词:
薄膜
厚度测量
光切显微镜
光切原理
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