在磁粉检测中，试片的使用非常普遍。磁粉检测试片，又叫灵敏度试片，常用的类型有A，C和D型，此外还有M型试片。 20世纪60年代，试片最早在日本开始使用，试片主要用于验证磁粉检测综合性能（系统灵敏度），另外还可用于考察工件表面的磁场分布特征，确定被检工件的磁化电流值，以及直接考察试验条件和操作方法是否适当。