介绍了特征X射线的测厚原理、测厚系统组成及数据处理方法，并利用铜和铁的特征X射线对纸张厚度进行了实验研究；当被测量纸张的厚度从7．2mg／cm^2到43．2mg／cm^2时dm与ln I曲线的相关系数达到0．999以上，测量相对误差在2％以内。

本文比较系统全面地介绍了ＩＲＭ Ｘ－Ｒａｙ测厚仪的系统结构、测量原理、测量信号在ＳＳＴＲＩＯ处理器中的处理过程，特别分析了Ｘ－Ｒａｙ源和电离室的特性，ＳＳＴＲＩＯ的处理功能，并给出了计算厚度的方法、公式及合金补偿和温度补偿的方法。