为了提高自准直仪的分辨力，将纵向莫尔条纹引入到光路中，用长光栅代替传统单狭缝，将长光栅成像在CCD检测器上，CCD作为标尺光栅，通过两个光栅叠加形成的莫尔条纹的变化可以将成像位移分辨率提高到亚像元，进而将自准直仪的角度分辨率提高到毫秒级．实验结果表明，相对于直接检测狭缝边缘的方法，莫尔条纹法的分辨力提高了25倍．

提出一种光栅式位移测量新方法，利用单个普通低线数计量光栅，实现高分辨率，大量程的位移测量。给出测量光路图，分析测量原理，最后介绍初步原理实验及结果。