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CS-Ⅰ型低温工作台

作者: 张肇华 范士荣 来源:电子显微学报 日期: 2024-05-14 人气:8
CS-Ⅰ型低温工作台
本文简单地介绍了CS—Ⅰ型电镜低温工作台的用途及技术规格。该系统可以使样品速冻,并在送样、制备及观察过程中保持真空和低温,最大程度地阻止样品形成冰晶,以便在电镜内观察到接近于自然状态的含水样品。CS—Ⅰ型低温工作台特别适宜于观察生物及其他的含水试样,可配于多种型号的扫描电镜。

共聚焦激光扫描显微镜系统及其在生物学研究中的应用

作者: 刘守忠 陆惠民 来源:电子显微学报 日期: 2024-02-21 人气:14
共聚焦激光扫描显微镜系统及其在生物学研究中的应用
本文介绍了共聚焦激光扫描显微镜系统的工作原理及其优良性能。文中还介绍了利用此系统进行两种动物视觉显微结构的三维重建和定量分析。

电镜低剂量技术的仪器改装

作者: 卢炘英 汤长风 来源:电子显微学报 日期: 2023-03-06 人气:9730
电镜低剂量技术的仪器改装
应用高分辨电镜技术研究生物大分子结构的主要障碍是未染色的样品对辐射损伤的高度敏感性。le/ 的电子剂量,就会损伤样品。低剂量技术是防止辐射损伤的主要方法。低剂量技术要求电镜应能探测极低剂量的束流(如 ),并能进行轴外聚焦。目前多数商品电镜达不到要求,因而需要改装。我们对JEM--100CX/fl电镜进行了三处改装:

LS-1型扫描电镜拉伸台的研制

作者: 范士荣 张肇华 来源:电子显微学报 日期: 2023-03-03 人气:3
LS-1型扫描电镜拉伸台的研制
扫描电镜这种大型精密分析仪器。主要用于样品的形貌观察及作成份分析,目前我国的扫描电镜主要限于样品的静态特性的观察和分析。而材料科学研究的一个重要方面是对材料进行动态研究,这项工作在我国急需广泛开展,例如在电镜内进行原材料的质量、构件的强度动态的力学试验;或观察研究材料的显微裂缝及超显微裂缝对强度的影响。利用电子显微镜的高分辨率及高放大倍数独特优点,加上材料力学的拉伸试验台。可以进行金属、非金属、陶瓷、生物、纺织纤维等材料的精密力学测试以及它们的工艺流程的动态监测。依据我们设计各种电镜试样台的经验,最近为KYKY-1000B型扫描电镜研制成

SEM编程扫描信号发生器

作者: 张永明 王克定 来源:电子显微学报 日期: 2023-03-03 人气:9145
SEM编程扫描信号发生器
本编程扫描信号发生器是为KYKY2000型扫描电子显微镜开发研制的。其主要特点是除了输出送往电镜镜筒及照相CRT的模拟扫描信号外,还输出送往图象存贮器的数字地址信号。发生器的各种扫描方式及状态完全由软件程序来控制,使硬件结构大大简化,且便于与主计算机通讯,实现各种自动控制功能。

X光能谱仪液氮杜瓦瓶真空恢复技术

作者: 金鹤岭 马宏海 来源:电子显微学报 日期: 2023-03-03 人气:3
X光能谱仪液氮杜瓦瓶真空恢复技术
扫描电镜中X光能谱仪的重耍组成部分鲤漂移硅si(Li)探测器及爆效应晶体管需要用液氮冷却,目的是防止握漂移硅中的握反向扩散和降低热噪音。杜瓦瓶内的液氮通过一个称为冷指的金属棒使塌效应晶体管和探测器冷却。杜瓦瓶长期使用后具空度将自然下降,液氮消耗量增加,不仅增加保养负担,也会影响仪器的使用性能,必须及时恢复其真空度。若返原厂修复,费用昂贵。我们利用实验室现有的具空喷镀仪的具空系统对杜瓦瓶重抽具空,实践证明,效果很好。

X射线能谱分析的新进展

作者: 章一鸣 来源:电子显微学报 日期: 2023-03-03 人气:8716
X射线能谱分析的新进展
伴随着计算机技术的迅速发展,在近15年中x射线能谱仪及其分析方法突飞猛进。从1984年开始第三代的能谱仪间世,虽然它不仅可从事微区元素分析,而且可以进行图像处理和图象分析,成为发展最快使用最广的微区分析仪器。但是在超轻元素的分析、对谱线重叠的元素的定性分析、图像处理和图像分析的功能和速度方面还存在一系列间题有待改进。

X射线能谱仪Si(Li)探测器的清污处理

作者: 万德锐 蒋锦江 来源:电子显微学报 日期: 2023-03-03 人气:6
X射线能谱仪Si(Li)探测器的清污处理
本文报道了X射线能谱仪的清除Si(Li)探测器污染的方法更多还原

ZYS-PⅡ型双喷电解抛光仪的研制

作者: 周志澜 谢学智 刘铮 张健 来源:电子显微学报 日期: 2023-03-03 人气:9
ZYS-PⅡ型双喷电解抛光仪的研制
ZYS一PⅡ型双喷电解抛光仪是供电镜实验室制备金属薄膜用的专用仪器,我们综合了国内外同类仪器的特点,研制而成。

波谱仪中探测器结构探讨

作者: 卢宁 来源:电子显微学报 日期: 2023-03-03 人气:5
波谱仪中探测器结构探讨
一、引言:X射线探测器简单地说是一个信号转换器,它将入射的X射线按其能量大小不同转换成幅度不同的电脉冲。探测器的种类分:正比计数管,盖革计数管和闪烁计数管。在波谱仪中均采用正比计数管。由于不同波长的特征X射线的能量各不相同,要求探测器即计数管的灵敏度也应有所不同。对于波长在67A-18.307A的X射线采用的是超轻元素计数管,对于波长在11.909A~0.128A的X射线采用的是重元素计数管。超轻元素与重元素计数管的区别主要在入射窗口薄膜上,超轻元素计数管窗口膜厚在0.2~0.3 左右,而重元素计数管窗口膜厚约为6 若用重元素计数管测超轻元素的X射线,则几乎测不出X射线,而用超轻元素计数管测重元素X射线时,则本底增大。本厂生产的DXS-x2波谱仪中就采用了两个分离的计数管,分别探测超轻元素和重元素但在使用过程中要不时放氧更换...
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