介绍了对ＥＰＭＡ－８７０５电子探针显微分析仪全自动分析系统进行功能开发，从而实现其对电子探针分析标准样品鉴定测试的全自动分析

在Ｄ／ｍａｘｒｃ衍射仪上，经过改造平行光栏系统实现了Ｘｒａｙ平行光束衍射法，使粉末衍射仪能应用于纳米级厚膜层的物相鉴定．通过对不同样品应用常规（ＢｒａｇｇＢｒｅｎｔａｎｏ）聚集衍射法和所建立的新方法进行测试比较，结果表明，这种方法能够有效地对２０ｎｍ厚的镀膜层进行物相测定