超声相控阵成像系统软件设计
介绍了一种超声相控阵成像系统软件设计方案。软件基于嵌入式Linux和Qt/Em—bedded开发,采用了模块化的设计思想。重点研究了该软件系统实现的若干关键技术:利用DMA方法实现了成像数据从FPGA到ARM的高效传输;利用Qt的多线程支持实现了计算任务的并行处理,提高了系统的实时性能;利用Qt的文件类库和SQLite数据库支持,实现了探伤系统中的数据管理和维护等等。系统运行正常,符合设计要求。
数字射线照相法现状评述
概述和简析三种数字射线照相技术的基本特点和方法要点,凸现其相对于传统的胶片法射线照相技术的各种优点,并展示其在工业上的应用前景,以期该新技术在国内迅速推广。
两相流速度分布算法的研究
提出一种基于小波变换、神经网络和空间滤波测量速度成像的方法.神经网络用来重构管道相关部分的图像.小波变换用于确定每个像素空间滤波信号的带宽,并由此得到速度和它的图像.实验结果表明这种速度成像测量方法是可靠的.
γ相机平面成像的空间畸变校正
介绍了一种通过软件对γ相机的空间非线性畸变进行实时校正的方法.考虑到在非常小的平面内,图像的空间畸变可看成是图像的几何线性变化.产生一些校正单元,用某一校正单元对位于该校正单元的γ事件进行线性校正.各校正单元的变换参数通过最小均方差和三次样条插值来确定.
工业X射线照相技术的应用与展望
工业X射线检测是X射线照相技术在工业上的重要应用,其图像的数字化是未来工业探伤的发展方向.文中详细介绍了工业X射线检测数字化的优点、方法以及数字化工业探伤的发展与展望.工业X射线检测的应用将射线检测技术水平提高到一个新的层次,解决了成像无胶片化、计算机存储及传输的数字化、X射线低剂量化、结果判读及评价的远程网络化等一系列传统X射线照相检测不可逾越的难题,并可通过各种图像后处理方法提高图像分辨率和滤除噪声.该技术将逐渐取代传统胶片成为未来工业X射线检测的发展趋势.
成像无损检测中缺陷的分类与面积计算
研究了无损检测中二维图像的结构特点,将缺陷按形状分为三类,即简单缺陷、凹陷缺陷、空洞缺陷,并对缺陷进行了严格的定义,同时,给出了基于边界点的缺陷面积计算公式。
X射线显微镜
主要介绍 X 射线显微镜的显微成像原理和几种类型 X 射线显微镜的基本构造、特点和应用实例。成像衬度可以是吸收衬度,也可以是相位衬度;显微镜可以是透射式的,也可以是扫描式的;还有一类将一些 X 射线光谱技术与显微镜结合的光谱显微镜,介绍了 X 射线吸收近边光谱、X 射线磁圆二色谱和光电子发射谱与 X 射线显微镜的结合;另外,简要叙述 X 射线全息显微术。
反射型圆束偏器
研究由反射镜组组成的新型反射 型圆束偏器。方法在对立 方棱镜的结构特性和阿贝屋脊棱镜的成持性分析的基础上,提出了由3个反射镜组组成的新型反射涑 偏器。
亚表面缺陷的实时成像检测
提出一种适合于金属亚表面缺陷的可视化无损检测方法——磁光/脉冲涡流成像方法。该方法以脉冲信号激励产生涡流,以激光对被检测物体的照射取代传统涡流检测的线圈探头,通过磁光传感元件将缺陷引起的磁场变化转换成相应的光强度的变化,由传统的显微镜、照明系统、偏振器和CCD图像传感器组成的光学系统将光强变化转换为“明”或“暗”图像,实现了对缺陷的实时成像检测。本文论述了磁光/脉冲涡流实时成像检测机理,给出了一种实验装置。通过对金属表面/亚表面缺陷实验,表明该检测方法快速、准确,可实现微/纳米级缺陷的成像检测。
对扫描电镜成像相关因素的分析
针对DXS-10A扫描电镜成像过程中,影响成像质量的相关因素,从样品及样品制备工艺、真空系统、电子光学系统、讯号接收系统等方面进行了分析,并就成像相关因素的处理方法进行了讨论









