为了解决大口径光学元件检测过程中成本高、空间分辨率低这两个主要难点,提出了使用小口径、高精度干涉仪分次检测大口径元件,然后通过优化算法将检测结果进行拼接处理,最终得到原大口径元件波前信息的方法,并作了初步的拼接模拟实验,确认了这一方案的可行性.