理论上计算了入射距离747.4 mm及不同入射角情况下,日立变栅距凹面光栅的平场范围,确定了平场范围在30～50nm的一组平场谱仪的新设计参数.在原入射距离的情况下,新研制的平场谱仪在入射狭缝前加了一个轮胎镜,使谱仪具有空间分辨能力,且提高了收集效率,.利用一种真空紫外光谱灯对He气放电的特征谱线对平场谱仪进行了标定.在入射狭缝为 0.1mm时,实验上测得30.38nm谱线的宽度约为0.04mm, 在30nm附近的分辨率为0.001,在消像散波长40nm附近,分辨率将优于0.001.最后,利用标定后的平场谱仪对毛细管放电不同气体等离子体辐射进行了初步的测谱实验.

研究了三正弦码标尺应用于电子水准测量中实现标尺自动化读数的定位算法．在频域通过提取特征谱线位置计算物像比及视距，利用其相位进行几何定位并获取各码条等效宽度．求解像面上首码字中各周期码的相位值，根据其组合确定标尺粗读；通过几何定位得到视准线与首码字的相对距离，与粗读相结合得到标高读数．实验测量准确度满足实际需要，表明了该算法的可行性．

X射线荧光定性分析，一般是根据扫描所得到的衍射峰的高度(即语线强度)及其所在的2角查表求得的。但是，根据上述的思维，编制了计算机程序，利用电子计其机，就能够自动地鉴别出是采些元素并打印在记录纸上。

提出了一种基于圆柱面石英透射弯晶的晶体谱仪，主要用于诊断10～60keV范围的硬X射线光谱。石英弯晶的曲率半径为112mm．晶格常数为0．4256nm。实验利用Mo靶X射线管作为点光源，晶体与光源距离700mm，采用成像板作为记录介质．获得了清晰的光谱图像。Mo的两条特征谱线以光轴为中心线对称分布，谱线的位置与理论计算符合得很好。误差分析表明，实际测量值与理论值的偏差主要来源于瞄准精度。