静电放电是CMOS电路中最为严重的失效机理之一,严重的会造成电路自我烧毁。论述了CMOS集成电路ESD保护的必要性,研究了在CMOS电路中ESD保护结构的设计原理,分析了该结构对版图的相关要求,重点讨论了在I/O电路中ESD保护结构的设计要求。

对纺织品静电放电时间常数的物理探测模型进行了分析和计算，根据计算结果选配了合适的砂电路，完成了“静电放电时间常数仪”的感应探头设计。

静电的产生对电子设备的危害十分严重,而产品的可靠性要求电子设备必须工作稳定。本文详细分析了电子设备静电放电防护的设计原则,通过多年的实验摸索.总结出一些实用的设计经验。实验表明,遵照这些设计原则.能在很大程度上提高电子设备的可靠性。

通用串行键盘（即USB键盘）是心电图测试仪最易受静电干扰的部分，基于这个闯题，首先介绍了静电和USB的传输原理，其次，从物理结构和电路设计出发，总结可能存在的问题，最后。针对问题提出一系列对策措旌．提高心电图测试仪的静电防护能力。

本文介绍静电产生的理念，并对生产现场采取的除静电措施与除静电器应用作分析，而且举例阐明电子产品的静电放电保护技术与新装置的应用。