应用基于原子力显微镜与铁电分析仪联用的方法，在无顶电极的情况下，直接测试了PZT微阵列格点的电滞回线。结果表明，应用铁电分析仪与原子力显微镜联用的测试技术能够表征铁电电容的电滞回线，并且可以定性地评价薄膜微电容的铁电特性。

测量铁电材料的电滞同线是确定铁电参数、检验材料性能好坏的一个重要手段，目前采用的主要测量手段是示波器法。但是，这种传统的方法无法在测量的过程中对误差进行修正、对数据进行处理和分析。为了克服这种不足，研究和开发了一种基于美国NI公司最新推出的LabVIEW7．1Express虚拟仪器开发平台的电滞回线测试系统，通过介绍该系统的数据接口、数据处理、数据库链接以及多种语言联合作业的方法，提出了一种新的电滞回线测量方案，并获得了初步的实验结果。

采用传统固相法制备（Na0.02K0.18）0.5Bi2.5TiO3无铅压电陶瓷粉体，将质量分数5％的乙基纤维素溶入到质量分数为92％的松油醇中配制粘合剂溶液，加入质量分数2％的二乙二醇丁醚醋酸酯作分散剂，质量分数1％的邻苯二甲酸二丁酯作增塑剂，将陶瓷粉体与粘合剂溶液按3：1的质量比混合碾磨，用320目筛印刷至带有Pt电极的氧化铝衬底上，经放平、烘烤、预烧、加压及烧结后，制备出厚度约40μm的BNKT厚膜，平均晶粒尺寸为1．1μm，介电常数也达到最大为782，损耗最小为3．6％（10kHz），剩余极化为24．8μC／cm。矫顽场为71．6kV／cm，纵向压电系数为79C／N。