近场扫描光学显微镜中，切向力的检测有两种方法：光学检测法和非光学检测法。目前普遍采用的非光学检测法，其中上是采用压电陶瓷产生振荡，检测振幅在切向力作用下的衰减，从而控制探针和样品的距离。

介绍了扫描近场光学显微镜中基于剪切力的样品、探针间距离控制的方法。当受振动激励的光纤探针由远处逐渐接近样品表面时，样品与针尖间的切力使针尖的振动幅减小，通过检测探针振幅的变化从而控制针尖与样品间距离，此种方法可以方便地将光纤探针导入工作区域内并在扫描过程中保持适当的高度。我们测量了探针的幅频特性和力曲线，并用该方法４μｍ×４μｍ的范围内光盘表面的形貌信息，

以艾默生CT EV3100电梯专用变频器为例介绍距离控制技术在电梯控制系统中的应用。结合距离控制技术及电梯逻辑控制的基本原理，确定了选型，进行了相关参数设置，并分析了系统应用过程中的实际问题。