为了消除由于照明光源的非均匀性、镜头渐晕及CCD传感器噪声对图像质量造成的不良影响，首先从理论上分析了线阵CCD固定模式噪声和像素光电响应非均匀性的数学模型和产生的原因；对像素光电响应非均匀性这一主要影响因素，根据其光电响应模型提出了CCD像素光电响应非均匀性的两点校正方法，即求解出各个像素光电响应不均匀性的校正因子和暗偏置量系数，进而用以计算各个像素的校正量，实现逐点校正；针对校正算法大数据量、实时计算的要求，设计了基于现场可编程逻辑门阵列FPGA快速实现校正算法的硬件处理结构。最后，通过仿真和实验表明，两点校正方法可以有效地减小CCD像素光电响应不均匀性的图像噪声，提高图像质量，以便做后续精确处理。

线阵TDI CCD遥感相机的非均匀性标定对获取高质量的图像来说具有重要意义.由于线阵TDI CCD、透镜等主要部件的生产过程与工艺过程的控制和材料的种类及性质的影响,所以使所获取的图像是非均匀的,在图像上表现为水平纹理.分析了非均匀性校正的算法.根据线阵TDI CCD相机像素光电响应不一致的特点,运用了两点定标的非均匀性校正的算法.最后对校正前后的图像的标准方差进行了比较,得到了令人满意的结果.

用实验的方法研究了激光粒度仪的光电响应特征，在此基础提出了一种新的标定方法。并用实验验证了该方法的正确性。