本文报告了高分辨率成像光谱仪(C—HRIS)原型样机的研究结果.分析了农业、资源调查与环境管理等应用需求和技术指标要求.介绍了C—HRIS原理样机的光学系统、光机结构、电子学系统以及技术性能.给出了在地面和飞机上光谱成像试验结果.

<正> 八十年代初在X射线显微术方面,由于先进技术的发展已逐步形成面向用户的生物研究工具。当前要研究的主要问题是辐射损伤。1.软X射线显微术前景在生物结构研究中,在性能方面光学显微镜和电子显微镜有明显的不足。科学家的任务是填补性能上的空白。生物光学显微镜的限制几乎完全是分辨率。在给定染色的条件下,现代对比度增强,光学系统已克服了大部分样品固有的低对比度问题。

<正> 现在,绝大多数光学系统依靠反射或折射元件来实现某些功能。有资料表明,衍射光学元件(DOE’s)在特定应用中具有某些优点。有各种制备DOE’s的技术,如金刚石切削技术可以把各种红外材料、金属或塑料制成衍射表面。还有一种金刚石工具可用来直接在衬底材料上切削出衍射表面的凸凹纹。金刚石切削一般用在反射金属表面或红外材料(如锗)上。也有可能用金刚石加工应用于注模塑料法中的母版元件。金刚石切削技术能制备具有高衍射效率的衍射表面。用该技术获得最佳衍射效率的关键在于如何将金刚石工具顶端雕刻成所希望的形状。这一技术的主要缺点是加工工具成本过高,而且难以将其用在一些光学材料

<正> 1.引言同步辐射学术界把术语“rms倾斜误差”看作是对反射镜表面面形误差定量表示的一个很 重要的参量。新型同步辐射光源为了保持高亮度的光束质量.要求rms(均方根)表面倾斜误差不超过0.2arcsec(1μrad),为了说明这个允差的大小,举一个直径35mm的平面反射镜变形呈球形为例,其变形量只能有λ/40(峰至

随着技术上的进步，使得微机械光学和衍射器件的尺寸有可能实现与入射光波长处于同一量级的大小。在全息术、光谱学、干涉计量术中往往要涉及到这种元件的应用，在微波工程和无线系统设计领域里也要使用类似结构的器件，这些器件有许多实际应用，如形成入射场相位和偏振的衍射光栅(即作为无线系统里扫描反射器中的扭曲偏振器。

1991年德国联邦物理技术研究院(PTB)开展了高分辨率高精度的新型角度比较仪的研制.其原因是,近年来角度测量技术已获得很大的进展,用于测量与生产技术的新型数字测角系统,受到了现有校准可能性的限制.大型望远镜新的测角系统,一再实现了更为精确的测量步骤.此外,惯性—角度测量技术,如激光陀螺仪和光纤陀螺仪,要求更高级的检测与校准设备.曾在1969年,Johannes Heidenhain公司向PTB提供了一种角度测量台,其分辨率为0.1 are sec.后来,将这一测角台装备了新的电子学系统,分辨能力达到0.01 aresec.1987年Heidenhain公司为PTB制造了一台分光仪,其测角台含0.01 are sec的测量步骤.该公司又于1991年与PTB合作,开发测量步骤为0.001 are sec的角度比较仪.