研制了一种新型的基于空间分辨的激光等离子体X射线极化谱仪。将平面晶体和球面弯晶色散元件在极化谱仪内正交布置，即在水平通道用PET平面晶体作为色散元件，在垂直通道用半径为380mm的Mica球面弯晶作为色散元件。信号采用成像板进行接收，有效接收面积为30mm×80mm，从等离子体光源经晶体到成像板的光路为980mm。实验中成像板获得了铝激光等离子体X射线的光谱空间分辨信号。实验结果表明：该极化谱仪具有较高的光谱分辨率，适用于激光等离子体X射线极化光谱的诊断。

设计了测试能量范围为0．6～6keV的椭圆弯晶谱仪。此谱仪利用椭圆自聚焦原理，晶体分析器采用氟化锂材料，椭圆焦距为1350mm，离心率为0．9586，布拉格角范围为30～65°。在神光Ⅱ靶室进行了实验，入射激光波长为0．35pm，激光功率约为1．6×10^14W／cm^2，与厚度为100弘m的钛平面靶法线夹角约为45°。实验结果证实，弯曲的氟化锂晶体具有极佳探测效果，弯晶分析器对波长为0．2～O．35nm的X射线的分辨率可达500～1000，同时具有等光程而便于空间分辨测量的优点，在同样距离条件下比平晶分析器高一个数量级的收光效率，故适合于激光等离子体x射线的光谱学研究。

在惯性约束聚变（ICF）中,激光等离子体产生的X射线包含了丰富的信息。为了获取这些有用的信息用于诊断电子的温度和密度,本文基于椭圆几何原理研制了布拉格散射角为30～65°区域的椭圆弯晶分析器,论述了等离子体诊断谱仪的弯晶分析器加工及其性能评价。LiF晶体被用作X射线散射元件,晶体是椭圆弯曲的粘贴在偏心率为0.9586、焦距为1350mm的不锈钢衬底上。激光功率为1.6×10^14W/cm^2,脉宽为800～900ps,并以钛作为靶材。实验结果表明,该弯晶分析器具有比平晶分析器更好的灵敏度,光谱分辨率达到500（λ/Δλ）。

为了测量z箍缩等离子体X射线的空间分辨光谱，利用椭圆聚焦原理，研制了一种椭圆晶体谱仪。以Si（111）椭圆弯晶作为色散分析元件，椭圆的离心率为0．9480，焦距为1348mm，布拉格角范围为30°～54°，谱线探测角范围为54°～103°，探测的波长范围为0．31-0．51nm。设计了半径为50mm的半圆型胶片暗盒，内装胶片接收光谱信号。分析了椭圆的弥散度对光谱分辨率的影响。在“阳”加速器装置上进行摄谱实验，胶片成功获取了氩喷气等离子体X射线的跃迁光谱，实测谱线分辨率（λ／△λ）达300～500，波长与理论值吻合。

设计了可用于X射线成像用的聚焦型超环面晶体谱仪,讨论了基于布拉格几何结构的超环面及球面弯曲晶体聚焦特性,给出了基于超环面晶体X射线2维单能成像的光源、晶体及探测器的最佳位置,在中国工程物理研究院激光聚变研究中心进行了X射线背光成像实验。利用超环面弯曲晶体作为成像器件,其弧矢及子午平面的曲率半径分别为290mm及190mm,该曲面晶体具有极高的聚光效率。实验中利用X射线成像板获取了Cr的Kα射线辐射形成的金属栅格2维图像。实验结果表明,研制的超环面晶体能够用于X射线单能成像;分析图像的光谱信息可知,在弧矢方向的空间分辨力约为100μm,实验结论符合预期目标。