国产扫描电镜上安装X线能谱仪
扫描电子显微镜所成的像是由分解为近百万个的像元逐点依次记录而成的,因而使它在观察表面形貌的同时可进行成分和元素的分析。对于三透镜式扫描电子显微镜,还可以通过电子通道花样进行结晶学研究[1]。近几年,对一台八十年代初国产的BSM-25型扫描电子显微镜作了几方面的改进工作,其中包括高压纹波的减小、高亮度阴极的使用等措施[2,3],使原来15nm的极限分辨率提高到6nm左右;另外在自行研制的YWD-1A型扫描电镜上又进行了低真空条件下的高能电子反射衍射仪研究实验,成功地对一些材料的表面结构进行了分析确定[4]。近来,经过设计,在BSM-25型扫描电镜上安装并调试成功了美国TRACOR NORTHERN公司生产的X线能谱仪。由于安装位置的限制,能谱仪只能在样品处于低位时应用,为此对能谱仪的测量准确性进行了验证。
用高分辨力热场发射显微镜观察Zr原子在W尖上的吸附
从理论与实际方面研究了获得高分辨力场发射电镜(FEM)的条件,认为在适当的场强及温度下0.2nm的分辨力是可以达到的,这与当前认为的FEM分辨力只能在2nm上下高一个数量级.我们称这种显微镜为高分辨力热场发射显微镜(HRTFEM).利用这种显微镜,我们研究了W尖端上Zr原子吸附情况.这种吸附Zr的W尖端是用于Schotky发射阴极的尖端,是由W(100),W(110)及W(111)单晶经化学腐蚀为0.5μm曲率半径的尖端后再涂上Zr而制成的.从HRTFEM的结果表明,吸附在W尖端上的Zr原子表现为一些亮点,W(111)方向上的Zr原子有规则的排列成等腰三角形,但在W(100)及W(110)方向上则没有明显吸附,因此我们认为,作为Schotlky阴极,W(11...
微型计算机在电子显微镜中的应用的研究
当今电子显微学发展的一个重要趋势是电子计算机的广泛采用。这包括三个主要的方面:1)电子显微镜系统的计算机辅助设计;2)电子显微镜操作的智能化;3)电子显微样品图像、结构特征信息的分析处理。美国芝加哥大学的Crewe教授和日本大板大学的桥本教授都在他们的原子分辨本领的电子显微镜中使用了图像处理设备,并取得令人满意的结果。
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