为了满足激光等离子体X射线波长测量的需要，在辅助光阑法的基础上，从理论上提出了一种用平面晶体谱仪确定波长的新方法。发展了改进的辅助光阑法来确定晶体面与记录面的交线到第一条辅助光阑的距离，并且利用某一条谱线的曲率得到记录面与晶体表面的夹角。这两个参量在一般的辅助光阑法中需借用参考谱线得到，而采用新的方法可在不使用任何参考谱线的情况下得到所有光谱线的波长。实际使用中通过增大光阑间的间距，根据不同的波长范围调节晶体与记录面的相对位置，可使波长的测量精度达1×10^-3nm。

提出了一种基于圆柱面石英透射弯晶的晶体谱仪，主要用于诊断10～60keV范围的硬X射线光谱。石英弯晶的曲率半径为112mm．晶格常数为0．4256nm。实验利用Mo靶X射线管作为点光源，晶体与光源距离700mm，采用成像板作为记录介质．获得了清晰的光谱图像。Mo的两条特征谱线以光轴为中心线对称分布，谱线的位置与理论计算符合得很好。误差分析表明，实际测量值与理论值的偏差主要来源于瞄准精度。

通过光线追踪模拟在SGⅡ激光装置上利用第9路激光入射到Cu背光靶面产生X射线,通过Au网格背光照相,利用KBA显微镜对此网格成像,获得了清晰的网格图像。通过对实验网格数据的分析发现：在掠射角减小的方向,空间分辨力随视场的变化比掠射角增大的方向变化小,与光线追踪模拟比较,二者均表明KBA的视场是非对称的,从实验图像数据得出,视场的不对称相对于中心位置约为30%。