太赫兹技术涉及屯磁学、半导体物理学、光电子学、材料科学以及微加工技术等多个学科。太赫兹探测器是太赫兹技术应用的关键器件之一。太赫兹电磁波独特的特点，令太赫兹技术在物体成像、射电天文、宽带移动通信、医疗诊断、环境监测等方面具有重大的科学研究价值和广阔的应用前景。文章介绍了太赫兹探测技术的原理及其应用，并在此基础上分析了太赫兹探测器件的最新进展、性能和发展趋势。

利用白光作为光源的干涉仪（WLI）克服了单色相干光干涉相位不确定，不能够进行绝对测量的缺点，本文设计了一种串连差分白光干涉（DMLI）测量极薄金属带材厚度的新系统。该系统的特点是由两个迈克尔逊干涉仪（MI）串联组成差分干涉系统，两个干涉仪的测量反射面由薄带的两个对应表面承担，干涉系统的最后输出信号只与薄带的厚度有关，而与薄带在测量光路中的位置无关。理论分析及实验结果表明，该系统既有干涉测量的高精度、高灵敏度，又具有较强的抗干扰能力。

研制了一种基于MSC1210单片机的标准负荷测量仪，用来测量扭矩和压力等物理量。给出了硬件原理图和软件流程图。采用同步数字比率技术、数字移置恢复技术，使该测量仪的精度达到0．01％。现场使用表明该仪器运行稳定、可靠。