随着科技的发展，尖端产品和现代化武器对光学元件质量要求越来越高，非球面光学元件因性能优良而应用越来越广泛，需求越来越迫切，非球面元件面形检测也成为研究者的工作重点，该文着重阐述现有的非球面光学元件面形检测方法，介绍各种方法的检测原理，并给出了各种方法的优缺点。