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排列互比法用于超精测角时产生系统误差的研究

作者: 范天泉 谢长文 来源:光学精密工程 日期: 2023-08-21 人气:7636
排列互比法用于超精测角时产生系统误差的研究
从理论上阐明了用排列互比法测量分度误差时,其测量结果中含有测量系统误差的原因,这主要是自准直仪十字丝倾斜与棱体倾斜和角晃动的综合影响所造成的,并用实验加以验证。文章还介绍了消除和减少这种系统误差的方法。
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