发展了一种能够有效检测复合材料分层的光纤Mach-zehnder干涉仪。用一只2×2耦合器和一只3×3耦合器构成光纤干涉仪，输出信号经A/D转换后送入计算机，用软件进行信号解调。将此干涉仪的一个臂埋人材料内部或粘贴在复合材料表面，沿光纤逐点下压材料，通过光纤干涉仪测量出传感光纤形变的大小和方向，这样就能够有效的检测出材料内部是否存在分层。