介绍用傅里叶红外光谱仪（ＦＩ－ＩＲ）测量辐射体常温热发射率的新方法（简称Ｆ－Ｋ法）。利用ＦＩ－ＩＲ计算机系统通过Ｋ－Ｋ（Ｋｒａｍｅｒｓ－Ｋｒｏｎｉｇ）关系和麦克马洪公式对反射率谱Ｒ（λ，ｔ）进行变换，得到辐射材料的热发射率谱ε（λ，ｔ）。实验证明Ｆ－Ｋ法在很多方面优于黑体比较法。