针对线阵ＣＣＤ在测长中的应用，主要讨论了在长杆反射式测量中，光源、被测物的形状、表面特性相互影响的问题，并通过实验提出了相应的解决思路和方法。实验表明，在被测物距ＣＣＤ约１ｍ时，精度可以达到０．１５０ｍｍ，且具有良好的重复性。

提出在非扫描工作方式下获得二维分布的多个点目标辐射谱的方法.该方法与其他成像光谱技术最显著的区别在于其光学系统的设计及数字微镜的使用.通过数字微镜进行目标选通,并经过特殊设计的柱面透镜阵列将二维分布的多个目标变换成一维分布,结合光谱仪的使用实现多目标光谱的同时测量,提高了系统信噪比.在可见光波段进行了实验,结果表明该方法是可行的.