现代光学系统多采用大口径的光学元件来提高系统的测试精度.数字波面干涉仪是一种高精度光学元件检测设备,但目前传统的技术无法满足检测大口径光学元件的要求.在普通数字波面干涉仪的基础上,采用目标函数多孔径拼接技术,能很好地解决大口径光学元件检测问题,最终得到较完整的波前信息.

在较大孔径放大系数（〉4）的情况下，结合实验结果，从拼接模式、被测面形、测量误差和不同孔径放大系数的角度出发，分析了各种因素对目标函数拼接技术精度的影响，为高精度检测和控制大口径光学元件表面面形（波前）提供了依据。